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賽默飛ICP-MS質譜儀的應用優勢分析
賽默飛ICP-MS質譜儀的應用優勢分析
賽默飛ICP-MS質譜儀是基于單片電路分析框架，并不僅僅是對以往機型的重新設計，且體積更小。*的分析平臺與固定結合離子光學組件，對實現的分析能力，效率和可靠性邁出了一大步。它配置靈活，克適用于不同領域的使用要求。
賽默飛ICP-MS質譜儀特征：
.靈敏度-賽默飛ICP-MS質譜儀系列中的高靈敏度。
.多功能性-可配置10個檢測器-靈活多樣的接收器排列-更寬的質量范圍-在線氫分析-可現場升級。
.堅固而可靠所有離子光學組成都有固定排列的單片分析器-集成信號擴大器和數字轉換器-所有的離子光學組成都是固定的：安裝或維護時不需要調整位置-優化的真空排氣設計-自動診斷的完整系統。
.緊湊而方便-賽默飛ICP-MS質譜儀占地面積小-上蓋可放置在線外圍設備-雙路進樣，微量進樣和多向進樣內置-從前部面板開關連續流接口-所有真空泵內置-低噪音設計。
賽默飛ICP-MS質譜儀以離子源、質量剖析器和離子檢測器為中心。離子源是使試樣分子在高真空條件下離子化的設備。電離后的分子因接受了過多的能量會進一步碎裂成較小質量的多種碎片離子和中性粒子。它們在加快電場效果下獲取具有相同能量的均勻動能而進入質量剖析器。質量剖析器是將一起進入其間的不同質量的離子，按質荷比m/e巨細別離的設備。別離后的離子依次進入離子檢測器，收集擴大離子信號，經計算機處理，繪制成質譜圖。離子源、質量剖析器和離子檢測器都各有多種類型。賽默飛ICP-MS質譜儀按應用范圍分為同位素質譜儀、無機質譜儀和有機質譜儀；按分辯本領分為高分辯、中分辯和低分辯質譜儀；按工作原理分為靜態儀器和動態儀器。
賽默飛ICP-MS質譜儀重要的應用是別離同位素并測定它們的原子質量及相對豐度。測定原子質量的精度超越化學丈量辦法，大約2/3以上的原子的準確質量是用質譜辦法測定的。因為質量和能量的當量關系，由此可得到有關核結構與核結合能的常識。關于可通過礦石中提取的放射性衰變產物元素的剖析丈量，可斷定礦石的地質年代。質譜辦法還可用于有機化學剖析，特別是微量雜質剖析，丈量分子的分子量，為斷定化合物的分子式和分子結構供給牢靠的根據。因為化合物有著像指紋相同的*質譜，賽默飛ICP-MS質譜儀在工業生產中也得到廣泛應用。