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產品簡介
SolidSpec-370Z初研發的目的是為了對液體樣品進行吸光度檢測。近些年，由于快速增加的固體反射率和吸光度測定要求，高精度高能量的分光光度計在市場上大受歡迎，包括對半導體、膠片、玻璃和其他吸附性固體材料。同時，生命科學領域中也需要高通量的分析儀對超痕量樣品進行高速及高敏感度分析。藥品及制藥工業中則需要分析儀具備安全性，可追蹤性以及符合GXP和FDA 21 CFR Part11的合規性檢測功能
詳細介紹
SolidSpec-370
適用于光學、半導體及FPD應用—島津UV-VIS-NIR分光光度計
| 是一款*的高靈敏度分光光度計，可進行深紫外區檢測，具備大樣品室，可滿足光學、半導體及FPD在以下方面的檢測需求。 |  |
FPD：
材料評估中NIR和大樣品的高靈敏度測定。
半導體：
短波長激光和12英寸晶片整體表面的深紫外區測定。
光通信：
減反射膜NIR高靈敏度測定。
光學：
從DUV到NIR再到大樣品的高靈敏度分析。
SolidSpec-370/3700DUV特點
高靈敏度
SolidSpec-3700和3700DUV是*臺使用3個檢測器的分光光度計：光電倍增管（PMT）探測器檢測紫外區和可見光區，近紅外區使用InGaAs 和 PbS檢測器。InGaAs 和 PbS檢測器的使用使得近紅外區域的靈敏度顯著增強。
深紫外區檢測
SolidSpec-3700DUV具有檢測深紫外區的能力，可測定至165nm或175nm的積分球。此檢測是用氮氣吹掃光室和樣品室進行的。注： 165nm是SolidSpec-3700DUV使用直接受光單元DDU-DUV測定）的zui短波長。
大樣品室
大樣品室（900W x 700D x 350H mm) 可在不損傷大樣品的前提下進行檢測。其垂直光路可直接測量大樣品同時保持它們的水平狀態。使用自動X-Y樣品臺（選配）測定樣品的尺寸是12英寸或310×310mm。
SolidSpec-3700Optional Accessories選配組件
Direct Detection Unit DDU/DDU-DUV (for liquid/solid transmission measurements)直接受光單元DDU/DDU-DUV對于液、固樣品透過率測定
自動X-Y樣品臺（自動測量）
大型鏡面反射附件
氮氣流量裝置
鏡面反射附件(5°12°30°45°)
積分球刪除樣品盤
一體軟件
SolidSpec-3700/3700DUV的UVProbe軟件包括光譜模塊，光度模塊，動力學及報告模塊等功能。多重的安全性及可追蹤性以確保刪除數據的可靠性。