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sop封裝高低溫測試箱 sop封裝高低溫檢測設(shè)備的編程方式有兩種，一種是可程式，另一個種是定值式，那么可程式的就常被稱為可程式高低溫實驗箱。可程式是指可編程式，按照溫度變送器的運作流程，人工編制試驗條件程序，輸入芯片中。 芯片按照程序，以極短的時間掃描各個端口的狀態(tài)，并按照程序?qū)⒔Y(jié)果輸出到另外一些端口。 而設(shè)備通過控制器指令自動完成顧客設(shè)定的程式內(nèi)容要求。愛佩公司生產(chǎn)的可程式高低溫實驗箱采用智能型可程式溫度控制器，以液晶觸摸屏方式顯示溫度值，有加熱器、傳感器故障指示、變送功能、帶有RS/232或RS/485通訊接口可供遠程監(jiān)控，顧客可通過觸屏編程自行設(shè)定系統(tǒng)參數(shù)。采用高精度的濕敏電阻為傳感器，對設(shè)備的溫度和濕度進行實時監(jiān)控并通過負載進行有效的控制。該儀表集測量、顯示、控制及通訊于一體，精度高、測量范圍寬，是一種適合于各個行業(yè)和領(lǐng)域的溫度測量控制儀表。

sop封裝高低溫測試箱 sop封裝高低溫檢測設(shè)備的主要功能：

1、5.7寸彩色液晶觸摸顯示屏，中英文操作畫面任意選擇，觸控式屏幕面板，操作簡單，美觀大方，程序編輯容易。

2、zui大具有120組可編定的程序容量，每組可記憶100段溫度自行操作。

3、具有多項擴充功能，控制器可經(jīng)由RS/232或RS/485接口與計算機聯(lián)機，也可定制USB導(dǎo)出數(shù)據(jù)，可連接打印機打印高低溫度曲線監(jiān)控數(shù)據(jù)。

4、可顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、實時顯示執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。

5、故障報警，并顯示排除故障的方法。

6、采用*的微處理器芯片，可靠性高，抗干擾能力強。

執(zhí)行與滿足標準

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法；

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法；

GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗N 溫度變化試驗方法；

GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》；

GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》；。

MIL-STD810D方法502.2 標準；

IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗規(guī)程.第2部分:第1節(jié).試驗.試驗A:低溫試驗

EC68-2-14_試驗方法N_溫度變化

型號規(guī)格參數(shù)如下:

型號AP-GD-150  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 400×500×400㎜   外箱尺寸：970×1360×970㎜

型號AP-GD-150  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×600×500 ㎜   外箱尺寸：1070×1460×1070㎜

型號AP-GD-225  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×750×600 ㎜   外箱尺寸：1070×1610×1170㎜

型號AP-GD-408  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 600×850×800 ㎜   外箱尺寸：1170×1710×1270㎜

型號AP-GD-800  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×800 ㎜ 外箱尺寸：1550×1840×1290㎜

型號AP-GD-1000 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×1000㎜ 外箱尺寸：1550×1840×1470 ㎜ 

溫度范圍： －70℃～+150℃(可只選擇-40℃～+150℃；-20℃～+150℃；0℃～+150℃；)  

溫度波動度：±0.5℃

溫度解析精度：0.01℃

溫度控制精度：±0.2℃

升溫/降溫時間：3.0℃/分鐘；1.0℃/分鐘(此升降溫速率是根據(jù)國家標準要求的，要定制快速升降溫的顧客請下單時跟愛佩業(yè)務(wù)員說明，謝謝）

電源：3φ5 380V AC±10%  50/60HZ或1φ3 220V AC±10%  50/60HZ（根據(jù)功率大小而配置）