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前快速溫變試驗箱產(chǎn)品介紹：
用于電子電器零部件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、兵工業(yè)、航天、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導陶磁及高分子材料之物理性變化，測試其材料對高、低溫的抵抗力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì)。從精密的IC到重工機械零部件，無一不需要它的測試.
 它zui快的速度可以每分種升降溫20℃，當然也可以根據(jù)顧客的要求選擇非標設(shè)計定制出符合國標參數(shù)的箱子。非標定制升降溫速度可選擇線性或者非線性2℃／min、3℃／min、4℃／min、5℃／min、6℃／min、7℃／min、8℃／min、9℃／min、10℃／min、15℃／min至20℃／min范圍內(nèi)可選。尺寸大小可以在廠家提供的6個標準范圍內(nèi)選擇，也可以把自己要求的寬、高、深（內(nèi)尺寸）提供給廠家定制。

前快速溫變試驗箱是樣品在人工設(shè)計*極低的溫度強度極限下，愛佩廠家運用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進行循環(huán)交變時，樣品產(chǎn)生交替的膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力，使樣品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變，通過加速溫變應(yīng)力來使?jié)摯嬗跇悠返蔫Υ酶‖F(xiàn)[潛在樣品零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵]，以避免該樣品在使用過程中，受到環(huán)境應(yīng)力的考驗時而導致失效或者故障，造成不必要的重大損失，對于提高樣品出貨質(zhì)量與降低故障返修次數(shù)有著明顯的效果，另外快速溫度變化本身是一種制程階段的過程，而不是一種可靠度試驗，所以快速溫度循環(huán)試驗箱是100％對產(chǎn)品進行的程序測試的選擇。。。

型號和尺寸
型號          溫度范圍     濕度范圍     內(nèi)尺寸（W*H*D）   外箱尺寸（W*H*D）
AP-KS-225C  -40~150℃     20%~~98%    500*750*600mm     1100*1620*1180mm
AP-KS-408D  -60~150℃     20%~~98%    600*850*800mm     1200*1720*1280mm
AP-KS-800D  -70~150℃     20%~~98%    1000*1000*800mm   1560*1860*1350mm
AP-KS-1000D  -70~150℃    20%~~98%    1000*1000*1000mm  1560*1860*1550mm
A:0℃~150 ℃；B:-20℃~150℃；C:-40℃~150℃；D:-60℃~150℃；  D:-70℃~150℃；備注以上溫度范圍可很有任意選擇套用在不同的尺寸上做報價方案及生產(chǎn)。即不可的尺寸大小也可以套用不同的溫度范圍。

符合標準：
GJB/150.3A-2009  軍裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
GJB/150.4A-2009  軍裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗
GB/T 5170.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GB/T 2423.3-2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GJB/150.9A-2009  軍裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗
GB/T 2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化
GB/T 10586 -2006  濕熱試驗箱技術(shù)條件；GB/T 10592 -2008  高低溫試驗箱技術(shù)條件