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11Rtec-Instruments軸承試驗(yàn)
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微納米壓痕儀/劃痕儀：用于評(píng)估涂層和固體
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目前AFM有三種工作模式，接觸模式(ContactMode)、輕敲模式(TappingMode)和非接觸模式(Non-contactMode)。2.1接觸模式(ContactMode)接觸模式包括恒力...2017/9/27查看全文
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共聚焦三維表面形貌儀具有光學(xué)形貌上zui高的橫向分辨率，附有5百萬自動(dòng)分辨率的CCD相機(jī)，空間下樣可調(diào)至0.05um，是表面特征以及形貌的測(cè)量的*配置。項(xiàng)目簡述參數(shù)說明共聚焦三維表面形貌儀可快速垂直掃...2017/8/15查看全文
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1986年，G.Binning等人發(fā)明了原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope,AFM)，AFM不僅具有很高的分辨率（橫向分辨率達(dá)到1nm，縱向分辨率達(dá)到0.01nm），而且對(duì)工作環(huán)...2017/6/22查看全文
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原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發(fā)展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現(xiàn)無疑為納米科技的發(fā)展起到了推動(dòng)作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放...2017/5/15查看全文
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原子力顯微鏡研究對(duì)象可以是有機(jī)固體、聚合物以及生物大分子等，樣品的載體選擇范圍很大，包括云母片、玻璃片、石墨、拋光硅片、二氧化硅和某些生物膜等，其中zui常用的是新剝離的云母片，主要原因是其非常平整且...2017/4/11查看全文
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雙模式三維表面形貌儀是集合了共焦光學(xué)形貌儀，WLI白光干涉形貌儀，原子力顯微鏡，接觸和非接觸式雙模式表面形貌檢測(cè)項(xiàng)目簡述1、雙模式三維表面形貌儀——共焦可快速垂直掃描的旋轉(zhuǎn)盤共焦技術(shù)。使用高數(shù)值孔徑(...2017/3/15查看全文
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原子力顯微鏡(atomicforcemicroscope,AFM)是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。1981年，STM（scanningtunnelingmicroscopy,掃...2017/2/23查看全文
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臺(tái)階儀測(cè)量精度較高、量程大、測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定可靠、重復(fù)性好，此外它還可以作為其它形貌測(cè)量技術(shù)的比對(duì)。但是也有其難以克服的缺點(diǎn)：1由于測(cè)頭與測(cè)件相接觸造成的測(cè)頭變形和磨損，使儀器在使用一段時(shí)間后測(cè)量精度下降...2016/9/14查看全文
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摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)是由主軸驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)，摩擦副夾具，油盒與加熱器，試驗(yàn)力傳感器，摩擦力矩測(cè)定系統(tǒng)，摩擦副下副盤升降系統(tǒng)，彈簧式微機(jī)施力系統(tǒng)，操縱面板系統(tǒng)等部分組成。它們都安裝在以焊接機(jī)座為主體的機(jī)架內(nèi)。機(jī)座的...2016/8/12查看全文
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如何做好摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)的養(yǎng)護(hù)工作?1、認(rèn)真閱讀使用說明書及對(duì)試驗(yàn)機(jī)進(jìn)行相關(guān)操作、使用和維護(hù)。2、嚴(yán)格摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)zui基本的操作規(guī)范是保持試驗(yàn)機(jī)工作效率的基本保證。3、保證試驗(yàn)機(jī)及周圍環(huán)境的清潔，定...2016/8/8查看全文