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X熒光光譜儀的優點
X熒光光譜儀是一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數 12～92的所有元素，選擇性高，分析微量組分時受基體的影響小，在地質、采礦和冶金等部門應用很廣。
X熒光光譜儀的原理：元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷，同時發射出具有一定特殊性波長的X射線，根據莫斯萊定律，熒光X射線的波長與元素的原子序數有關。
根據量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個光具有的能量。因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素定量分析。
X熒光光譜儀的優點：
1、制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析
2、分析精密度高。目前含量測定已經達到ppm級別
3、X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析
4、非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
5、X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。
6、分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，10～300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。