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I3A/ISO 12233 分辨率測試卡 參考價：面議
I3A/ISO 12233 分辨率測試卡可用來測試相機的電子靜態圖象分辨率，符合ISO 12233標準。不管模擬或數字相機，還是黑白照片和彩色攝影機都可以使用與...
IEEE 標板 參考價：面議
IEEE 標板為成像系統提供了一個初始像，可用來測試多種相機系統的鑒別率。同一個成像系統在水平視場和垂直視場、中心視場和邊緣視場、以及四周分辨率都不盡相同，而通...
NBS 1963A 分辨率測試板 參考價：面議
NBS 1963A 分辨率測試板采用NBS 1963A分辨率圖案，既可用正片（圖案黑色，背景透明），也可用負片（背景黑色，圖案透明），可用于精密光學測試，各測試...
乳色玻璃朗奇刻線法載玻片 參考價：面議
乳色玻璃朗奇刻線法載玻片乳色玻璃鍍鉻反射系統的測試分辨率高公差
便攜式USAF光學測試板 參考價：面議
便攜式USAF光學測試板 體積小巧，便于攜帶，采用結實耐用的乙烯材料碾壓制作而成，尺寸規格為3- ½“L x 2“W，四周為圓角。采用USAF圖案0組...
朗奇刻蝕法制熒光測試片 參考價：面議
加強版的朗奇刻蝕法制熒光測試片有著獨到的特點，寬帶熒光膜，在365nm和550nm波長時受激輻射，本分辨率測試片可測UV光照明的儀器的分辨率，特別是生物顯微鏡。...
毛玻璃朗奇刻蝕法制高精度測試卡 參考價：面議
毛玻璃朗奇刻蝕法制高精度測試卡在毛玻璃上沉積鉻 一致性高 可選公制和英制版
鑒別率板 參考價：面議
鑒別率板 采用USAF標準圖案，用黑色、紅色、黃色以及藍色來檢測色差，互相垂直的部分可用來檢測像散。
正弦測試板 參考價：面議
正弦測試板 正弦圖案可用來估算成像鏡頭的MTF和其它光學系統中的元件。本產品是通過分析成像元件再現正弦圖案來測量MTF函數的。在評估光學器件設計期望指標與實際指...
星標板 參考價：面議
星標板可用來鑒別對焦誤差，像散和其它存在于光學系統中的像差，有多款供您挑選，直徑為60mm的中心直徑為100μm，可用來測量高分辨率或高倍率的儀器。本產品都是在...
星標陣列 參考價：面議
星標陣列是用來標定對焦誤差以及光學系統中各視場點的像散。置于與sensor對應的中心，邊角以及對角線上，這樣，確定定位和高度的難題就再也簡單不過了。小陣列板的中...
USAF 1951以及圓點柵格圖板 參考價：面議
USAF 1951以及圓點柵格圖板USAF 1951 0到 3 號圖案規格（14 lp/mm）在2mm中心處為固定頻率尺寸規格為2"x 2.75"
USAF環形圖案測試卡 參考價：面議
USAF環形圖案測試卡可同時測試視場中多個點的分辨率，此圖案可選三種不同規格的尺寸，1平方英寸，1.5英寸直徑，或1英寸X3英寸的測試片，每種規格的測 試片都有...
變頻測試靶 參考價：面議
變頻測試靶頻率范圍從5線對/毫米到120線對/毫米， 或5線對/毫米到200線對/毫米每種頻率尺站1毫米寬度5線對/毫米累增可用來標定視頻系統可檢測未知分辨率多...
彩色掃描儀測試卡 參考價：面議
彩色掃描儀測試卡可作為各種數字成像設備或掃描設備的評測工具使用，有5中不同的分辨率規格供使用（30，75，95，140，和180線對每英寸），有20個不同等級的...
NIST 可追蹤彩色透射校準載玻片 參考價：面議
NIST 可追蹤彩色透射校準載玻片用于評估顯微鏡系統的色彩精度。這些載玻片帶有 24 種顏色的色塊，直徑從 4150 µm 低至 150µm...
EIA 灰度測試片 參考價：面議
EIA 灰度測試片適合用在評估視頻系統和照相機的光學檢測。尺寸大小合適（50.8 x 50.8 x 1.5mm標稱值），可直接觀察或用35mm幻燈機投影出來觀察...
ISO-14524 反射相機對比卡 參考價：面議
ISO-14524 反射相機對比卡反射對比卡可用來確定成像系統捕獲的光密度范圍。本卡符合ISO-14524規格要求。
ISO-21550動態范圍測試片 參考價：面議
ISO-21550動態范圍測試片 動態范圍測試片可用來評估透射掃描儀或其它透射成像系統的光密度范圍，由35毫米幻燈片上敷灰度色標而組成。
大灰度測試卡 參考價：面議
大灰度測試卡尺寸為8.5 “ x 11 “，采用白色相紙材質，由一組不等的灰階圖組成，可用來方便的測試光學系統的灰度等級特性，有15個密度等級，光密度從0.09...
反射式掃描測試靶 參考價：面議
反射式掃描測試靶可用來測定數字掃描系統的反射分辨率和圖象特征，符合ISO 16067-1各項要求。本圖案包括Landolt環，包括文字數字的分辨率圖和邊緣傾斜圖...
Spectralon®白平衡和漫反射目標板 參考價：面議
Spectralon®白平衡和漫反射目標板可用于各種工業、實驗室和現場應用，包括成像系統的校準、背光照明、激光目標板、光學反射器、遙感和近距離傳感器。...
硅光電二極管 參考價：面議
硅光電二極管 通過光電效應，探測器提供了一個將光能轉化成電能的工具。基本原理基于探測器中的電子帶和導電帶之間存在一個微小的能量差。當具有足夠能量的、可以激發一個...
表面光潔度對照卡 參考價：面議
表面光潔度對照卡有30個對照樣品，規格為7/8“ x 3/8“，采用在基材上電鍍鎳層工藝，可迅速評估6種常見的機械加工表面光潔度，如叉表面、絞刀擴孔表面、磨削表...
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