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詳細(xì)介紹
A-5000-3613*英國雷尼紹三坐標(biāo)測針
TP200 / TP200B測頭本體 TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和精確的三維輪廓測量，即使配用長測針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標(biāo)測量機(jī)傳導(dǎo)振動或在移動速度很高的情況下使用長測針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。
TP200規(guī)格摘要TP200TP200B
主要應(yīng)用需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測量機(jī)。與TP200一樣，但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時(shí)。傳感器方向六軸：±X、±Y、±Z六軸：±X、±Y、±Z單向重復(fù)性 (2s µm)觸發(fā)水平1：0.40 µm觸發(fā)水平2：0.50 µm觸發(fā)水平1：0.40 µm觸發(fā)水平2：0.50 µmXY（2D）輪廓形式測量偏差觸發(fā)水平1：±0.80 µm 觸發(fā)水平2：±0.90 µm觸發(fā)水平1：±1 µm 觸發(fā)水平2：±1.2 µmXYZ (3D) 輪廓測量偏差觸發(fā)水平1：±1 µm 觸發(fā)水平2：±1.40 µm觸發(fā)水平1：±2.50 µm 觸發(fā)水平2：±4 µm測針交換的重復(fù)性SCR200：±0.50 µm（zui大） 手動：±1 µm（zui大）SCR200：±0.50 µm（zui大） 手動：±1 µm（zui大）測力（測尖）XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 NXY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N超程測力（位移為0.50 mm時(shí)）XY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF/EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 NXY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF/EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N重量（測頭傳感器和模塊）22 g22 gzui長加長桿（如配在PH10系列測座上）300 mm300 mm推薦的zui大測針長度（M2測針系列）SF/EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GFLF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GFSF/EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GFLF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF安裝方式M8螺紋M8螺紋適合的接口PI200、UCCPI200、UCC測針模塊交換架自動：SCR200手動：MSR1自動：SCR200 手動：MSR1測針系列M2M2
TP200測針模塊測針模塊通過高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭超程保護(hù)功能。有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的超程測力。模塊SF（標(biāo)準(zhǔn)測力）LF（低測力）EO（長超程）
應(yīng)用一般使用。小直徑測球或必須使用zui小測力的場合。額外超程使坐標(biāo)測量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。留言測針zui長可達(dá)100 mm，測球直徑 > 1 mm。測球直徑小于1 mm。與SF的超程測力相同。測頭Z軸的額外超程為8 mm。
SCR200交換架SCR200可對zui多六個(gè)TP200測針模塊進(jìn)行自動高速交換。SCR200由獨(dú)立的測頭接口 —PI200供電，并可確保安全的測針交換。SCR200套件可包含低測力和標(biāo)準(zhǔn)測力組件，每一種套件都包含一個(gè)SCR200加上三個(gè)測力相同的測針模塊
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