MS300測試系統外觀圖

MS系列系統是Inframet主要測試系統，可測量多種紅外整機系統：熱像儀，可見光-近紅外相機，短波紅外相機、激光測距機和多傳感器測試系統等，進行全面測試和軸對準的測試。

測試功能

1.         不同視場適用波段：可見光，近紅外，短波紅外，中波紅外和長波紅外；

2.         可測量多種紅外整機系統：熱像儀，可見光-近紅外相機，短波紅外相機、激光測距機和多傳感器測試系統等；

3.         可測量的重要參數如下

1.         不同視場的紅外熱像儀的軸對準；

2.         不同鏡頭焦距的可見光-近紅外相機的軸對準；

3.      可見光-近紅外相機與紅外熱像儀之間的軸對準；

MS多波段整機測試系統測量不同系統的原理如下。

測試熱像儀：圖像投影儀投射圖像到中波/長波范圍熱像儀，由計算機系統生成的圖像分析被檢測熱像儀。高精度的離軸反射式CDT平行光管，TCB差分黑體，以及一組紅外靶標用于投影。

測試可見光/NIR相機：可見光/NIR投影系統與圖像分析計算機系統相結合來測量電視相機。包括CDT反射式平行光管，可見光/NIR光源，和一組可見光靶標；
一系列不同的輻射源可以用在投影系統中（光譜范圍擴展到SWIR的光源或者MTB黑體）以及一系列SWIR用于投影系統中的靶標也可用于測量。

測量成像整機系統軸校準：電控的測試系統生成由被測試熱像儀及相機生成的圖像并計算兩者之間的角度：
a) 熱像儀在不同視場下的光軸；
b) 相機在不同鏡頭放大率下的光軸；
c)熱像儀與相機之間的光軸。

激光系統軸對準：計算機控制的測量系統分析激光系統在激光敏感卡上生成的圖像并計算光軸間的夾角：激光光軸（激光測距儀，激光指示器，激光照射器等）相對于成像系統光軸。注意：MS系統可以進行激光測距儀發射光軸的校準。這里假定激光測距儀發射光軸與接收已經調整好。這里可選測量激光測距儀的光軸對MS系統軸的能力。

測量SWIR相機：SIWR投影系統與圖像分析計算機系統相結合來測量SIWR相機。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一組SWIR靶標；

測量不同圖像格式的熱像儀：當采用模擬視頻采集卡并且測量分辨率小于等于756×576的25Hz的視頻圖像時；也可以選擇數字圖像采集卡（Camera Link,或GigE，或LVDS，USB2.0）作為測量高分辨率高幀頻的數字輸出傳感器。

產品參數

表1  MS測試系統配置參數