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細說分析涂層測厚儀磁性測量法與渦流測量法之間有哪些區別
涂層測厚儀的無損檢測方法與原理：涂層測厚儀在現實測量中是一門理論上綜合性較強，又非常重視實踐環節的很有發展前途的學科。它涉及到材料的物理性質，產品設計，制造工藝，斷裂力學以及有限元計算等諸多方面。
在化工，電子，電力，金屬等行業中，為了實現對各類材料的保護或裝飾作用，通常采用噴涂有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法，這樣便出現了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學生成膜等概念，我們稱之為“覆層”。
覆層的厚度測量已成為金屬加工工業已用戶進行成品質量檢測*的較重要工序。是產品達到優質標準的*手段。目前，國內外已普遍按統一的標準測定涂鍍層厚度，覆層無損檢測的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質研究方面的逐漸進步而更加至關重要。
有關覆層無損檢測方法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產品或產品表面，系有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線反射法可以無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍小。因有放射源，故，使用者必須遵守射線防護規范，一般多用于各層金屬鍍層的厚度測量。
電容法一般僅在很薄導電體的絕緣覆層厚度測試上應用。
磁性測量法及渦流測量法，隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微處理機技術后，測厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實用化方面邁進了一大步。測量的分辨率已達0.1μm，精度可達到1%。又有適用范圍廣，量程寬、操作簡便、價廉等特點。是工業和科研使用較廣泛的儀器。超聲波物位計,超聲波液位計,超聲波測厚儀。
采用無損檢測方法測厚既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，故能使大量的檢測工作經濟地進行。以下分別介紹幾種常規測厚的方法