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英國牛津 CMI900鍍層測厚儀介紹
CMI900鍍層測厚儀特點：
精度高、穩定性好
強大的數據統計、處理功能
測量范圍寬
NIST認證的標準片
服務及支持
產品簡介
詳細介紹
一、產品概述：
CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點，在質量管理到不良品分析有著廣泛的應用。用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業。
二、產品特點： 
1、樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
2、可檢測元素范圍：Ti22 - U92
3、可同時測定5層/15種元素
4、精度高、穩定性好
5、強大的數據統計、處理功能
6、測量范圍寬
7、NIST認證的標準片
8、服務及支持
三、技術參數；
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都于*的測厚行業
1、CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定zui多5層、15 種元素。
2、精確度于世界，精確到0。025um (相對與標準片)
3、數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求：如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
4、統計功能提供數據平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。
CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
5、可測量任一測量點，zui小可達0.025 x 0.051毫米
四、可選附件：
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：
l1、標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
2、擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
l3、可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
4、程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
5、超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
五、交貨期限：
收到貴司訂單及合同后6-8周