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電感耦合高頻等離子體發射光譜儀（ICP-AES）發射光譜理論原理
原子發射光譜分析測定的是原子外層電子從高能級向低能級躍遷時發射出的電磁輻射。在原子外層電子“跳回”和“躍遷”的過程中原子所放出的能量和所接受的能量與輻射或吸收的電磁波的波長有嚴格的一一對應的關系：
ΔΕ=hν= hc/λ
ΔΕ—量子狀態的能量差；h—普朗克常量；ν—輻射的電磁波頻率；c—光速；λ—波長。
故不同的原子擁有其*的特征性光譜，可以看作為是其“指紋”，用來作為定性分析的基礎。而譜線強度則可以用作定量分析的基礎。I=abc。
電感耦合高頻等離子體發射光譜儀（ICP-AES）是通過原子發射光譜衍生出來的分析技術。是采用ICP光源作為激發光源，是樣品激發，發出多含元素的特征譜線，由分光系統將各種組分原子發射的多種波長的光分解成光譜，由檢測系統接收，經計算機系統處理分析，終得出結果。根據特征譜線的存在與否，鑒別樣品中是否含有某種元素（定性分析）；根據特征譜線強度確定樣品中相應元素的含量（定量分析）。
樣品經霧化等技術導入，被激發，通過分光系統進行分光，到達檢測器，通過與計算機連接，數據轉化得到終測試結果。