可控硅測試儀（又名：系列塑封可控硅、可控硅光耦測試儀）是新研究設計成功的一種的數字顯示式多功能半自動可控硅和可控硅光電耦合器參數測試裝置。
1.它可以測量小至TO-92封裝大至TO-3P封裝的種電流等的塑封單、雙向可控硅（晶閘管）。
2.設計了0-1O00uA的觸發電流量程，可以直接測量MCR100-6等微安觸發電流的可控硅。
3.可以測量DIP-6.DIP-4封裝的過零和非過零檢測可控硅輸出的光電耦合器和DIP-6封裝的單向可控硅輸出的光電耦合器。
4.可以測量200A以下的螺銓型單、雙向可控硅和可控硅組合模塊。
5.測試觸發電流和觸發電壓時人工調節，可控硅插入測試座后儀器會自動的調節至觸發值，并穩定的顯示觸發電流IGT/觸發電壓VGT。
6.測試可控硅耐壓參數時只需性調節好gao輸出電壓值，以后每測一個管子只要按下高壓按鈕即可顯示該可控硅的耐壓值。
該儀器主于可控硅使用廠家對可控硅元件的檢驗、參數的配對、可控硅設備的維修之用。儀器還可以的應用于對多種電子元器件的高低壓耐壓的測試。儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、使用方便。
性能
可控硅觸發電流IGT測量范圍:6-1000uA,0-10.00mA,0-100.0mA 精度:≤3%
可控硅觸發電壓VGT測量范圍:0-5V精度:≤5%
可控硅光耦輸入端LED觸發電流IFT測量范圍:0-10.00mA, 0-100.0mA 精度:≤3%
可控硅光耦輸入端LED觸發電壓VFT測量范圍:0-3V 精度:≤5%
可控硅和可控硅光耦輸出端，正反向不重復峰值電壓VDSM/VRSM測量范圍:0-2KV精度:≤3%
可控硅和可控硅光耦輸出端，正反向重復峰值電壓VDRM/VRRM測量范圍:0-1.6KV精度:≤5%
測試功能
1.系列單雙向塑封可控硅觸發電流IGT、觸發電壓VGT的測試，正反向不重復峰值電壓VDSM/VRSM的測試，正反向重復峰值電壓VDRM/VRRM的測試。
2.DIP-6、DIP-4封裝的過零和非過零檢測可控硅輸出的光電耦合器和DIP-6封裝的單向可控硅輸出的光電耦合器輸入LED端IFT/VFT的測試，輸出端可控硅正反向不重復峰值電壓VDSM/VRSM的測試，正反向重復峰值電壓VDRM/VRRM的測試。
3.電流在200A以內，VDSM/VRSM在2KV以內，觸發電流在120mA以內的螺銓型單、雙向可控硅和可控硅組合模塊的觸發電壓IGT、觸發電流VGT的測試，正反向不重復峰值電壓VDSM/VRSM的測試，正反向重復峰值電壓VDRM/VRRM的測試。
4.2KV以內的類二管、三管、達林頓管、整流橋、MOS場效應管、IGBT及種模塊的耐壓測試。
5.2KV以內的壓敏電阻、穩壓管、雙向觸發二管等電壓值的測試