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北京泰坤工業(yè)設(shè)備有限公司>供求商機(jī)>PILATUS-光子計(jì)數(shù)探測(cè)器
PILATUS-光子計(jì)數(shù)探測(cè)器
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  • PILATUS-光子計(jì)數(shù)探測(cè)器

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貨物所在地: 北京北京市
產(chǎn)地: 瑞士達(dá)瑞斯
更新時(shí)間: 2025-01-21 14:19:35
期: 2025年1月21日--2025年7月24日
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

PILATUS混合像素探測(cè)器的設(shè)計(jì)是X射線探測(cè)領(lǐng)域的一次革命性成果,其能夠?qū)崿F(xiàn)的數(shù)據(jù)質(zhì)量。該探測(cè)器將單光子計(jì)數(shù)和混合像素技術(shù)這兩項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)相結(jié)合,應(yīng)用于同步輻射和常規(guī)實(shí)驗(yàn)室光源等各個(gè)領(lǐng)域。

詳細(xì)介紹

光子計(jì)數(shù)探測(cè)器Hybrid Pixel Detectors

混合像素探測(cè)器,為您的實(shí)驗(yàn)室精心準(zhǔn)備

PILATUS混合像素探測(cè)器的設(shè)計(jì)是X射線探測(cè)領(lǐng)域的一次革命性成果,其能夠?qū)崿F(xiàn)的數(shù)據(jù)質(zhì)量。該探測(cè)器將單光子計(jì)數(shù)和混合像素技術(shù)這兩項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)相結(jié)合,應(yīng)用于同步輻射和常規(guī)實(shí)驗(yàn)室光源等各個(gè)領(lǐng)域。單光子計(jì)數(shù)技術(shù)能夠消除所有探測(cè)器噪聲,并提供優(yōu)質(zhì)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。在采集數(shù)據(jù)時(shí),能夠有效排除讀出噪聲和暗電流的干擾,其在實(shí)驗(yàn)室光源的應(yīng)用中具有特別優(yōu)勢(shì)。實(shí)驗(yàn)室X射線光源相比于同步輻射光源光強(qiáng)低得多,因而在成像過(guò)程中需要更長(zhǎng)的曝光時(shí)間,其獲得的信號(hào)也要弱的多。由于排除了暗電流和讀出噪聲, PILATUS探測(cè)器更加適合在實(shí)驗(yàn)室使用。混合像素技術(shù)可以直接探測(cè)X射線,與其他探測(cè)器技術(shù)相比能夠獲得更清晰,更易分辨的信號(hào)。加上讀取時(shí)間短和連續(xù)采集的特點(diǎn),PILATUS探測(cè)器可以高效提供優(yōu)質(zhì)數(shù)據(jù)。低功耗和低冷卻需求,為您提供一個(gè)維護(hù)量極小的探測(cè)器系統(tǒng),。PILATUS探測(cè)器系列是專(zhuān)為您在實(shí)驗(yàn)室中的需求定制,并且提供具有價(jià)值的同步輻射驗(yàn)證的成熟探測(cè)技術(shù)。利用PILATUS*的功能,可以從你的挑戰(zhàn)性的樣品獲得*的數(shù)據(jù)。

針對(duì)您的需求

PILATUS探測(cè)器在眾多同步輻射束線上獲得成功應(yīng)用。PILATUS的*功能在實(shí)驗(yàn)室和相關(guān)工業(yè)應(yīng)用的優(yōu)勢(shì)也很明顯。現(xiàn)在DECTRIS的產(chǎn)品家族,包括一系列的PILATUS探測(cè)器,能夠滿足您在實(shí)驗(yàn)室的*需求。固定能量標(biāo)定和簡(jiǎn)化的讀出電子器件可以*匹配實(shí)驗(yàn)室相關(guān)需求,而且PILATUS*符合您的預(yù)算。混合像素技術(shù)和單光子計(jì)數(shù)技術(shù),這兩項(xiàng)能夠提升數(shù)據(jù)質(zhì)量和采集效率的關(guān)鍵技術(shù),在所有PILATUS探測(cè)器中*應(yīng)用。越來(lái)越多的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)應(yīng)用的儀器可配備或升級(jí)為PILATUS探測(cè)器。您可以在設(shè)備中自由集成PILATUS 探測(cè)器模塊,也可以直接采用 DECTRIS OEM合作伙伴的現(xiàn)成產(chǎn)品。

 OEM合作整機(jī)合作

PILATUS探測(cè)器是現(xiàn)成的產(chǎn)品,我們的OEM合作伙伴:

- JJ X射線

- 理學(xué)

- STOE

-Xenocs

傳感器層厚度[μm]

X射線能量

320

450

1000

5.4 KeV(Cr)

94%

94%

≥80%

8.0 KeV(Cu)

97%

98%

96%

9.2 KeV(Ga)

94%

97%

97%

17.5 KeV(Mo)

37%

47%

76%

22.2 KeV(Ag)

20%

27%

50%

              表1:基于PTB實(shí)驗(yàn)室的BESSY II實(shí)驗(yàn)裝置上測(cè)量的PILATUS傳感器的量子效率。

可定制,以符合您的要求

除了標(biāo)準(zhǔn)的320微米厚的硅傳感器,你可以定制您的PILATUS探測(cè)器450或1000微米厚的硅傳感器以匹配您的X射線光源能量(見(jiàn)表)。這樣能夠在所有常見(jiàn)的實(shí)驗(yàn)室X射線能量下實(shí)現(xiàn)高量子效率。

水冷機(jī)型PILATUS 300K和300K-W提供了可選的真空兼容性。此定制使得探測(cè)器能夠在真空中使用,如在SAXS裝置的飛行管中。連續(xù)可調(diào)的能量閾值的選項(xiàng)可以有效抑制熒光信號(hào)。

 關(guān)鍵優(yōu)勢(shì)

- 單光子計(jì)數(shù)模式中的直接探測(cè)X射線                               

- 無(wú)讀出噪聲

- 無(wú)暗電流

- 優(yōu)秀的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)

- 高動(dòng)態(tài)范圍

- 讀出時(shí)間短

- 高幀速率

- 高局部和全局的??計(jì)數(shù)率                                   

應(yīng)用

- 生物大分子晶體學(xué)(MX)

- 單晶衍射(SCD)

- X-射線衍射(XRD)

- 小角散射與廣角散射(SAXS/廣角)

- 表面衍射

- 漫散射

- 時(shí)間分辨實(shí)驗(yàn)

- 成像

- 無(wú)損檢測(cè)

PILATUS200K

ILATUS200K有效探測(cè)面積為84*70毫米,在各種不同的X射線應(yīng)用領(lǐng)域均為理想的探測(cè)器。這是zui緊湊的探測(cè)器,使您

可以充分利用所有PILATUS功能。 在SCD和XRD應(yīng)用中,采用PILATUS的局部和全局的高計(jì)數(shù)率,能夠獲得遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于基

于氣體放電或類(lèi)似技術(shù)的計(jì)數(shù)探測(cè)器的成像效果。精巧的前部殼體和緊湊的尺寸能夠探測(cè)到大衍射角的X射線,并且能夠

有效利用樣品周?chē)目臻g。全風(fēng)冷和低功率消耗,PILATUS200K是一個(gè)幾乎不需要服務(wù)和維修的探測(cè)器系統(tǒng)。

 PILATUS 300K

PILATUS300K是在實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行生物晶體學(xué)研究和小角散射研究(SAXS)的*探測(cè)器。大傳感器面積結(jié)合無(wú)快門(mén)數(shù)據(jù)采集,

可以輕而易舉的采集具有良好分辨點(diǎn)的大晶胞的高分辨率衍射數(shù)據(jù)。小角散射研究得益于水冷式探測(cè)的出色穩(wěn)定性,即使是

很長(zhǎng)的曝光時(shí)間,也具有準(zhǔn)確的精度,以確定和減去溶劑散射SAXS測(cè)量。此外,還可以采用可選的真空兼容的探測(cè)器。

PILATUS300K-W

PILATUS300K-W寬的矩形區(qū)域是非常適合WAXS2-D紋理分析和粉末衍射。成像區(qū)域超大的軸向尺寸使得探測(cè)器可以放置在直射

束非常接近的位置,為您提供在小角散射/廣角散射(SAXA/WAXS)裝置中測(cè)量廣角散(WAXS)信號(hào)的*探測(cè)器。與300K 類(lèi)

似,300K-W PILATUS 也可以定制真空兼容性的自定義選項(xiàng)。

 在您的實(shí)驗(yàn)室切片精細(xì)

PILATUS采集的精細(xì)φ切片。每個(gè)數(shù)據(jù)集的采集條件均為:

相同的角速度0.1°/S 下僅僅采集30分鐘,每幅圖采用如圖例

所示的不斷減少的旋轉(zhuǎn)寬度和曝光時(shí)間。更短的采集時(shí)間能夠獲

得更好的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。利用無(wú)噪聲的PILATUS探測(cè)器獲得的精細(xì)層

數(shù)據(jù)集可以獲得*的數(shù)據(jù)質(zhì)量(胰島素,180°旋轉(zhuǎn)角度范圍,

微焦點(diǎn)密封球管,PILATUS300K)。

 應(yīng)用

PILATUS應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室小角散射SAXS

由于其高動(dòng)態(tài)范圍,沒(méi)有讀出噪聲和暗電流,高靈敏性和*的穩(wěn)定性,PILATUS探測(cè)器非常適合應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室SAXS設(shè)備,高Q-范圍測(cè)量極其微弱的信號(hào),需要很長(zhǎng)的曝光時(shí)間。由于*沒(méi)有暗電流,PILATUS探測(cè)器擅長(zhǎng)在長(zhǎng)曝光時(shí)間,獲取的數(shù)據(jù)。另一個(gè)優(yōu)勢(shì)是使用PILATUS時(shí),探測(cè)穩(wěn)定性高,甚至能夠在很長(zhǎng)的曝光時(shí)間下,以的精度,確定和減去溶劑散射。這種出色的穩(wěn)定性源自單光子計(jì)數(shù)技術(shù)與混合像素技術(shù)以及簡(jiǎn)單卻非常穩(wěn)定的水冷技術(shù)的結(jié)合。

PILATUS探測(cè)器準(zhǔn)確測(cè)量微弱信號(hào)的表現(xiàn)可圈可點(diǎn),使您能夠成功處理稀釋了的樣本。 SAXS與尺寸排阻色譜法相結(jié)合,是研究聚集或易降解系統(tǒng)、瞬態(tài)配合物、以及齊聚狀態(tài)的強(qiáng)大方法。無(wú)噪聲PILATUS探測(cè)器,使這些稀釋的樣本,能夠在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行可行的研究 [圖]。此外,高幀速率和較短的讀出時(shí)間也能夠在蛋白質(zhì)洗脫的過(guò)程中zui大化采集時(shí)間從而更精細(xì)地進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。由于其可以揭示數(shù)據(jù)采集過(guò)程中輻射損傷的有價(jià)值的信息,超長(zhǎng)曝光時(shí)間下對(duì)數(shù)據(jù)采集精細(xì)采樣在常規(guī)SAXA 實(shí)驗(yàn)中極其有效。

 PILATUS 應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室生物大分子研究 MX

以*的精度測(cè)量微弱高分辨率反射信號(hào)確定圖像的質(zhì)量,并zui終成功進(jìn)行生物大分子研究。PILATUS探測(cè)器排除探測(cè)器噪聲干擾的特點(diǎn),可以有效提升弱反射信號(hào)的信噪比,并且能夠在散射背景中減少衍射強(qiáng)度的重疊以獲得更好的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)。此外,可以采用精細(xì)切片的策略,這樣可以沿旋轉(zhuǎn)方向減少背景重疊和降低斑塊重疊,以進(jìn)一步提高數(shù)據(jù)質(zhì)量可(圖),無(wú)噪聲PILATUS探測(cè)器允許*精細(xì)切片[1],而CCD或CMOS等探測(cè)器需要,權(quán)衡讀出噪聲和復(fù)位噪聲。

光束穩(wěn)定對(duì)于實(shí)驗(yàn)過(guò)程和實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)可以表現(xiàn)出同步輻射束線的特征而言,都是至關(guān)重要的。將您的系統(tǒng)匹配PILATUS探測(cè)器,可以zui大化實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室光源的極限優(yōu)勢(shì)。將高度穩(wěn)定的實(shí)驗(yàn)室光源與無(wú)噪聲高靈敏度的探測(cè)器系統(tǒng)相結(jié)合,可以再S-SAD和其他數(shù)據(jù)精度至關(guān)重要的實(shí)驗(yàn)方法中增加實(shí)驗(yàn)的成功概率。

PILATUS探測(cè)器對(duì)于整圖像的讀出的時(shí)間只有7毫秒,因此可以再連續(xù)旋轉(zhuǎn)過(guò)程的采集中不需要快門(mén)而直接采集。這樣降低了總的采集時(shí)間并且提升了采集效率,后者是高通量應(yīng)用(比如片段篩選)的一個(gè)關(guān)鍵優(yōu)勢(shì)。

 

技術(shù)

1、混合像素技術(shù)

混合像素探測(cè)器將X射線直接轉(zhuǎn)換成電子信號(hào)。其他類(lèi)型的X射線探測(cè)器依賴(lài)中間步驟來(lái)捕獲和轉(zhuǎn)換X-射線。

以CCD和CMOS探測(cè)器為例,其先將X射線信號(hào)轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光信號(hào)。可見(jiàn)光在轉(zhuǎn)換所需的磷光體屏中的散射會(huì)

減弱信號(hào)并且降低空間分辨率。玻璃纖維光學(xué)元件會(huì)轉(zhuǎn)換芯片上的光,會(huì)導(dǎo)致信號(hào)的進(jìn)一步減弱和失真。這些

CCD探測(cè)器及其他類(lèi)似探測(cè)器的固有設(shè)計(jì)限制在混合像素計(jì)數(shù)中并不存在。采用混合像素技術(shù)的X射線直接探

測(cè)可以提供更優(yōu)的空間分辨率和更高的探測(cè)效率。混合像素探測(cè)器中,每個(gè)像素由兩部分組成:感光像素和讀

出像素(圖)。X射線光子由感光像素直接轉(zhuǎn)換為電荷信號(hào)。讀出像素對(duì)電荷信號(hào)進(jìn)行處理和計(jì)數(shù)。混合像素

的每個(gè)獨(dú)立像素中的感光像素和讀出像素都有直接的電子學(xué)連接,可以防止信號(hào)的串?dāng)_和損失。這樣使得每個(gè)

混合像素成為一個(gè)虛擬獨(dú)立的X射線探測(cè)器,因此可以得到zui低的點(diǎn)擴(kuò)散、zui高的靈敏度和*的速度。                 

圖:在PILATUS混合的像素探測(cè)器的沒(méi)有讀出噪聲和暗電流。

單個(gè)PILATUS成像模塊在沒(méi)有X射線源照射的情況100毫秒和1小時(shí)的成像圖像。100毫秒后,由于讀出圖

像過(guò)程中沒(méi)有噪聲引入,所有像素計(jì)數(shù)為零。1小時(shí)后,由于在常曝光過(guò)程中沒(méi)有暗電流累積并且在讀出過(guò)程

中沒(méi)有噪聲引入,大部分像素仍然計(jì)數(shù)為零。曝光過(guò)程中的計(jì)數(shù)均來(lái)自于常規(guī)背景輻射,其計(jì)數(shù)率為0.15個(gè)

計(jì)數(shù)/小時(shí)/像素。

 2、單光子計(jì)數(shù)

通過(guò)X射線的吸收,自由電荷被釋放在感光像素中。單光子計(jì)數(shù)模式下X射線信號(hào)通過(guò)讀出像素進(jìn)行處理,其相對(duì)于信號(hào)積分模式具有多種優(yōu)勢(shì)。在能量沉積型探測(cè)器中,電荷在曝光過(guò)程中沉積下來(lái)。積分過(guò)程中,固有的暗電流會(huì)引入到沉積電荷中。暗電流會(huì)增加噪聲與降低圖像質(zhì)量。在單光子計(jì)數(shù)型探測(cè)器中,信號(hào)產(chǎn)生于對(duì)通過(guò)X射線吸收而釋放的單個(gè)光子分別計(jì)數(shù)。電荷在讀出像素中被放大,并且如果信號(hào)強(qiáng)度超過(guò) 一個(gè)可調(diào)節(jié)的閾值,一個(gè)吸收事件被數(shù)字化計(jì)數(shù)。這樣一來(lái),單光子計(jì)數(shù)的技術(shù)*排除暗電流成為探測(cè)器噪聲源的可能性,并且能夠獲得實(shí)現(xiàn)的數(shù)據(jù)。此外,單光子計(jì)數(shù)發(fā)生在飛行過(guò)程中的曝光,能夠?qū)崿F(xiàn)盡可能早的數(shù)字化和隨后快速的無(wú)噪聲的數(shù)字讀出。因此,作為積分型探測(cè)器中另一個(gè)重要噪聲來(lái)源的讀出噪聲,在單光子計(jì)數(shù)探測(cè)器中被*排除。

特點(diǎn)

1、*信號(hào)噪聲比

PILATUS混合像素探測(cè)器固有地排除本質(zhì)上是沒(méi)有暗電流和讀出噪聲的干擾。探測(cè)器沒(méi)有噪聲能夠確保得到良好的信噪比的數(shù)據(jù)。相比傳統(tǒng)的探測(cè)器,這使得在相同曝光時(shí)間內(nèi)獲得更優(yōu)質(zhì)的數(shù)據(jù)或者更短的采集時(shí)間得到相同的圖像。記錄弱衍射樣品產(chǎn)生弱信號(hào)或者以zui高分辨率記錄弱信號(hào)時(shí),無(wú)噪聲檢測(cè)器便顯示出其zui大的優(yōu)勢(shì)。

2、優(yōu)異的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)

采用混合像素技術(shù)和X射線直接轉(zhuǎn)換為電荷脈沖技術(shù),PILATUS探測(cè)器的像素之間沒(méi)有信號(hào)傳播。這給于單個(gè)像素形成尖銳的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)(FWHM),并提供了各種各樣的好處(圖)。間隔緊密的信號(hào),甚至在不同強(qiáng)度的情況下,也能更加準(zhǔn)確地分辨和測(cè)量。更清晰的信號(hào),減少了散射或其他實(shí)驗(yàn)固有的背景的重疊,從而改善了信噪比。

3、高動(dòng)態(tài)范圍

計(jì)數(shù)器深度20位(約100萬(wàn)計(jì)數(shù)),結(jié)合探測(cè)器無(wú)噪聲的特點(diǎn),確保了*的對(duì)比度和動(dòng)態(tài)范圍,另一個(gè)PILATUS標(biāo)志是帶來(lái)了優(yōu)秀的圖像和數(shù)據(jù)質(zhì)量(圖4)。*和極弱的信號(hào)在單一的成像中就能夠準(zhǔn)確的檢測(cè)到。

4、快速讀出和快門(mén)操作

實(shí)驗(yàn)室設(shè)備中采用的PILATUS探測(cè)器讀出完整的圖像,僅需要7毫秒。這樣可以無(wú)快門(mén)的情況下,進(jìn)行完整圖像的連續(xù)采集。

幾乎瞬時(shí)讀數(shù)連續(xù)數(shù)據(jù)采集zui大化設(shè)備的工作效率和數(shù)據(jù)生產(chǎn)率。

5、高局部和全局的??計(jì)數(shù)率

PILATUS設(shè)有一個(gè)非常*的ASIC技術(shù)實(shí)現(xiàn)單光子計(jì)數(shù)。這允許每一個(gè)像素中每秒鐘精確地探測(cè)到多達(dá)一百萬(wàn)的光子。由于每一個(gè)像素是一個(gè)幾乎獨(dú)立的探測(cè)器,全局計(jì)數(shù)率和像素的數(shù)量有關(guān)。以這種方式,PILATUS探測(cè)器實(shí)現(xiàn)每秒和每平方厘米數(shù)十億的光子的全局計(jì)數(shù)率。局部和全局的計(jì)數(shù)率的PILATUS探測(cè)器是遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于那些基于氣體放電或類(lèi)似技術(shù)的計(jì)數(shù)探測(cè)器。

6、易于維護(hù)和操作

PILATUS探測(cè)器具有低功耗和冷卻性能。所有探測(cè)器組件,在室溫下操作,這大大簡(jiǎn)化了冷卻。

PILATUS200K探測(cè)器是*風(fēng)冷和免維護(hù)。 PILATUS300K和300K-W采用低維護(hù),閉路冷卻水

的溫度穩(wěn)定在23℃。

7、圖示:PILATUS混合探測(cè)器的優(yōu)異的動(dòng)態(tài)測(cè)量范圍和點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)

衍射圖像的細(xì)節(jié)顯示出胰島素晶體的相同反射。這些圖像在用一個(gè)同步輻射束線上采用除探測(cè)器距離外相同的參數(shù)

采集而得,其探測(cè)器距離根據(jù)探測(cè)器尺寸被調(diào)整至能夠在探測(cè)器的邊緣獲得同樣的分辨率。PILATUS:20位計(jì)數(shù)器

深度混合像素探測(cè)器提供足夠的動(dòng)態(tài)范圍,zui大像素強(qiáng)度下zui高紀(jì)錄727,716個(gè)計(jì)數(shù)。得益于優(yōu)秀的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù),

斑點(diǎn)被局限在一個(gè)小的區(qū)域。此外,低馬賽克晶體的銳利的反射剖面精確地表示加上一個(gè)超過(guò)一千倍的相鄰像素之

間的強(qiáng)度差異,CCD與CCD相同的反射記錄包含許多重載像素的反射強(qiáng)度足以抹掉更大的面積。

PILATUS探測(cè)器系列技術(shù)規(guī)格

 

300K

200K

300k-w

探測(cè)器模塊數(shù)量

1*2

1*3

3*1

敏感區(qū)域:寬×高像素尺寸面積[mm2][平方微米]

83.8*70.0

83.8*106.5

253.7*33.5

像素尺寸

 

172*172

 

總的像素?cái)?shù)

487*407=198’209

487*619=301’453

1475*195=287’625

死區(qū)/模塊有缺陷的

4.3%

5.5%

0.9%

像素之間的差距

 

《0.03%

 

zui大幀速率[赫茲]

 

20

 

讀數(shù)時(shí)間[ms]

 

7

 

點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)

 

1pixel(fwhm)

 

計(jì)數(shù)器深度

 

20bits(1,048,576counts)

 

功耗[W]

24

30

30

尺寸(WHD)[MM3]

158*157*276

158*193*262

280*62*296

重量[kg]

5.4

7.5

7.0

冷卻

Air-cooled

Water-cooled

Water-cooled

X射線能量

鉻,錳,鐵,銅,鎵,鉬,銀靶線

標(biāo)準(zhǔn)配置

320微米的硅傳感器、兩個(gè)X-射線能量的校準(zhǔn)

探測(cè)器選擇

450或1000微米的硅傳感器、為兩個(gè)以上的X射線能量的校準(zhǔn),

連續(xù)閾值(3.5-18千電子伏)、連續(xù)閾值(2.7 - 18千電子伏)真空兼容性

 

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