高溫條件下研究材料介電性能*測量系統！

經過多年的努力，已經在材料物理性能表征測量領域成功積累了豐富的測量經驗，為了更方便的研究高低溫條件下材料的介電性能，我公司攜手國內院校聯合開發出高溫介電參數測量系統。該系統可用于分析寬頻、高低溫條件下被測樣品的阻抗Z，電抗X，導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量，同時還可以分測量樣品隨溫度、頻率變化的曲線。通過軟件將這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、cole-cole圖等集成一體并進行分析進行分析測量，高溫介電測量系統測量的頻率從20Hz--10MHz,測量的溫度從室溫--1000℃。目前高溫介電測量系統可廣泛應用于陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究。

Ø  系統配置

高頻 ： 測量頻率：20Hz—10MHz

英國WK精密阻抗分析儀+GWM200高溫測量裝置+PTC10可編程溫控儀+介電測量分析軟件Dconstant

低頻： 測量頻率：1uHz—10MHz

英國輸力強電化學阻抗+GWM200高溫測量裝置+PTC10可編程溫控儀+介電測量分析軟件

功能：

1、高溫實現從室溫到1000℃，升溫斜率:2℃/min,控溫精度:±1℃；
2、測量頻率從20Hz-10MHz,測量精度0.05%；
3、采用鉑金電極和引線,高溫樣品桿1000℃不氧化；
4、采用平行板電容器設計原理，樣品放置位置靈活，可快捷安裝和拆卸；
5、采用特殊設計處理和軟件補償，解決了因測量導線過長造成的測量誤差等問題；
6、采用進口可控硅和PID精確控溫，發熱功率800W；
7、樣品桿采用特殊設計，樣品損壞率低，并能與電極保持良好接觸。
8、樣品和樣品桿之間經特殊設計及加工，絕緣性能優良，解決了在高溫條件下樣品和樣品桿之間絕緣難的問題；
9、系統阻抗分析儀可以配置英國WK精密阻抗分析儀，可以配置Agilent4294A或E4980A；
10、中文軟件操作界面，菜單便捷，使用方便；
11、豐富多樣的曲線圖輸出，軟件可提供溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、頻率譜、時間譜、介電譜、Cole-Cole圖，可在多窗口之間方便切換；
12、一次掃描zui多可達1600個點，具有線性和對數掃描；
13、提供-40V至+40V的直流偏置電壓，可以測量樣品C-V曲線；
14、數據可通過主機USB接口直接存儲，也可通過GPIB接口和軟件進行存儲。
15、提供二年內免費功能升級的*服務；
16、系統還可以擴展測量樣品在變溫條件下的I-V曲線、電阻率測量、熱釋電、磁電容等測量功能；