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現(xiàn)代電子系統(tǒng)中包含不同的芯片、模塊等，不同電路模塊的信號在初始化和工作時(shí)可能相互影響，通過上電時(shí)序測試，可確保各模塊信號在正確的時(shí)間出現(xiàn)，避免信號沖突、干擾，保證系統(tǒng)正常運(yùn)行。如在通信系統(tǒng)中，收發(fā)模塊的上電時(shí)序不當(dāng)，可能造成數(shù)據(jù)傳輸錯(cuò)誤。隨著技術(shù)的發(fā)展，電路的復(fù)雜度不斷提高，對上電時(shí)序測試也提出了新的挑戰(zhàn)。SDS5000X HD可一次捕獲所有相關(guān)信號的上電過程，節(jié)省測量時(shí)間，提高工作效率，減少因多次測量引入的誤差，對有 8 個(gè)以上電源軌的復(fù)雜電路，可一次完成測量。

鼎陽科技最新八通道示波器和光隔離探頭，補(bǔ)全了寬禁帶半導(dǎo)體測試的最后一塊拼圖。SDS5000X HD的上升時(shí)間達(dá)到了ps級別，可以捕捉到碳化硅（SiC）、氮化鎵（GaN）的快速變化的波形，分析開關(guān)過程中電壓，電流的瞬態(tài)變化和開關(guān)特性。通過觀察信號的形狀、過沖、振鈴等情況，分析信號的完整性，優(yōu)化電路設(shè)計(jì)。