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GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)設(shè)備中的定義：試驗(yàn)箱穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測量點(diǎn)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)實(shí)測gao溫度和低溫度與標(biāo)稱溫度的上下偏差。
GB/T10592-2008 高低溫試驗(yàn)技術(shù)條件中的定義：穩(wěn)定后，在任意時(shí)間間隔內(nèi)，工作空間中心溫度的平均值，和工作空間內(nèi)其它點(diǎn)的溫度的平均值之差。
JJF 1101-2003 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范中定義：環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，顯示溫度平均值與工作空間中心店實(shí)測溫度平均值的差值。
GJB 5020-2003 溫度、濕度、振動(dòng)綜合試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)方法：無定義，計(jì)算方法與GB/T 5170.2相同，但取大值為溫度偏差。
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