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產品簡介
本儀器專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用*于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素，其穩定性和可靠性均處于業內*水平。
詳細介紹
Ux-6200 貴金屬分析儀
一、產品信息：
本儀器專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素，其穩定性和可靠性均處于業內水平。
二、應用領域：
貴金屬(Pt、Au、Pd、Ag、Rh等)相關制品的生產、銷售、回收的檢測；
用于各種金屬合金（銅合金、鐵合金、不銹鋼、錫合金等）的成份分析。
三、功能：
開放式工作曲線，可以根據需求建立新工作區
經驗系數法和基本參數法相結合
測試樣品：各種不同形狀樣品，滿足大樣品測試需求
安全性能：迷宮式設計，*達到輻射安全指標
測試操作簡單，實現傻瓜式操作模式
報告模板多樣化，適應各種測試需求
四、儀器參數：
分析軟件：Ux-6280貴金屬分析軟件
分析元素種類：26種元素可同時分析
分析方法：基本參數法（定量）
分析元素范圍：Na-U,可同時分析26種元素
測量范圍：ppm-*
測量時間：100－300s
精確度：0.1%（常量相對誤差）
分辨率：149±5eV
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
功率：350W
外形尺寸：640（W）*474（D）*412（H）（mm3）
樣品倉尺寸：300（W）*300（D）*100（H）（mm3）
重量：約48Kg
工作環境：15－30°C，相對濕度≤85%（不結露）
工作電源：AC220－240V，50/60Hz，350W
五、標準配置：
探測器： 2級半導體電制冷；探測器晶體厚度500μm；探測靈敏面積6mm2；Be窗厚度為1mil
高壓電源：高壓范圍0-50kV，功率50W，8h穩定性0.05%
X射線管：薄鈹窗側窗X射線管（Mo靶、Rh靶）
高清攝像頭裝置
精確定位裝置
自動開蓋裝置
● 售后服務
由專業的技術人員提供全面、系統的培訓，直至客戶熟練掌握操作方法及技巧，我司出售的儀器提供終身維修服務。