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產品簡介
詳細介紹
Thick 800
Thick 800 X熒光光譜儀主要針對大件部件的鍍層厚度和含量的無損、快速測定，它不同于EDX600B的下照式和封閉樣品腔的設計，而是采用上照式，通過三維的移動和激光定位，實現對尺寸范圍較大部件進行鍍層厚度和含量的點測量.應用領域：黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；貴金屬加工和首飾加工行業；銀行、首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
◆◆技術指標：
◆元素分析范圍：從K到U
◆一次性可同時分析多層鍍層
◆分析厚度檢測出限zui高達0.01um
◆同時可分析多達5層以上鍍層
◆相互獨立的基體效應校正模型，厚度分析方法
◆多次測量重復性zui高可達0.01um
◆長期工作穩定性小于0.1um（5um左右單鍍層樣品）
◆溫度適應范圍：15℃~30℃
◆輸出電壓220±5V/50HZ（建議配置交流凈化穩壓電源）
◆◆配置
◆開放式樣品腔
◆二維移動樣品平臺
◆探測器和X光管上下移動可實現三維移動
◆雙激光定位裝置
◆準直器自動切換裝置
◆玻璃屏蔽罩
◆正比計數盒探測器
◆信號檢測電子電路
◆高低壓電源
◆X光管
◆計算機及噴墨打印機
◆樣品腔尺寸：517mm×352mm×150mm
◆外型尺寸：648mm×490mm×544mm