阻抗分析儀IM3570產品特點： 1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查 LCR模式下zui快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量 基本精度±0.08%的高精度測量 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量 |
阻抗分析儀IM3570產品詳情： | | 元器件測量儀器(電感、電容、電阻測量) | 阻抗分析儀IM357 | | | |
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1臺儀器實現不同測量條件下的高速檢查 | | 
| | - 1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
- LCR模式下zui快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
- 基本精度±0.08%的高精度測量
- 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
- 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
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| | 主機不標配治具。請根據您的需求選擇選件中的治具和探頭。 | | | | | | |
基本參數 |
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測量模式 | LCR（LCR測量），分析儀（掃描測量），連續測量 | 測量參數 | Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q | 測量量程 | 100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數由Z確定） | 顯示范圍 | Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示值
θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%） | 基本精度 | Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° | 測量頻率 | 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進） | 測量信號電平 | V模式，CV模式（普通模式）
50mV~1Vrms，1mVrms步進（1MHz以下）
10mV~1Vrms，1mVrms步進（1.0001MHz以上）
CC模式（普通模式）
10μA~50mA rms，10μA rms步進（1MHz以下）
10μA~10mA rms，10μA rms步進（1.0001MHz以上） | 輸出阻抗 | 普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω | 顯示 | 彩色TFT5.7英寸，可設置顯示ON/OFF | 測量時間 | 0.5ms（100kHz，FAST，顯示OFF，代表值） | 測量速度 | FAST/MED/SLOW/SLOW2 | 其他功能 | DC偏壓測量，比較功能，面板讀取和保存，存儲功能 | 接口 | EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤，LAN | 電源 | AC90~264V，50/60Hz，zui大150VA | 打印 | 拷貝測量值或屏幕顯示的要點（需用9442，9593-01和9446） | 接口 | GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標準) | 電源 | AC90~264V，50/60Hz，zui大150VA | 體積和重量 | 330W×119H×307Dmm，5.8kg | 附件 | 電源線×1，使用說明書×1，通訊手冊×1 |
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1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查 LCR模式下zui快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量 基本精度±0.08%的高精度測量 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
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