本文詳細介紹了使用TA 儀器氙燈導(dǎo)熱儀DXF200 測量高導(dǎo)熱微米級薄膜樣品的面內(nèi)熱擴散
系數(shù)的相關(guān)理論和實驗設(shè)計，對25 微米的石墨薄膜進行了多次重復(fù)實驗。通過對標(biāo)準(zhǔn)樣品銅的
熱擴散系數(shù)驗證，證明了系統(tǒng)的可靠性。對石墨薄膜進行8 次脈沖測試，實驗數(shù)據(jù)與理論模型擬
合度高，重復(fù)性優(yōu)異。
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