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幾通道的低本底設備更適合你
閱讀：414 發布時間：2021-5-26
本底是指再被測放射性樣品中，除本實驗感興趣的核素以外的其他因素（包括樣品的干擾核素）在輻射探測器中產生的信號。低本底測量是指在低本底條件下對樣品進行測量，相應使用的儀器稱為低本底探測器。
低本底探測器往往選用放射性雜質少的材料或經過純化的材料制作探測器及整個裝置。除α探測器外，低本底探測器周圍要適當增加物質屏蔽，以防止宇宙射線和周圍環境中的射線引起的本底。常用的屏蔽材料為鉛和鋼。對探測器和測量系統的工作條件也要做適當的選擇，以減少噪聲和外界電磁場的干擾等因素引進的本底計數。
同樣的 ，低本底αβ檢測儀的在選擇的時候，有集氣法和非集氣法兩種可供選擇。集氣法相比非集氣法來說精度和干擾度都優一點，使用者可以根據自己的實際情況來判定哪種參數可以更符合自己的要求。在選擇的時候，通道之間是獨立的，根據需要測量的樣品數量來進行合理選擇即可。
主要技術參數：
產品執行標準GB/T11682-2008、檢定規程JJG853-1993
產品應用標準GB 5749-2006、 GB/T5750.13-2006、GB 8537-2008、GB19298-2003等
單位面積平均本底計數率/（計數·cm-2·min-1）
α ≤0.003 β ≤0.1
效率比
α ≥85% β ≥58%
效率穩定性
α ＜3% β ＜8%
串道比
α射線對β道 ≤2.5%
β射線對α道 ≤0.3%
儀器靈敏度
α 5×10-4Bq
β 1×10-3 Bq
本底穩定性：在24h,本底計數率變化應在 （平均計數率±3σ）的范圍內，其中σ為本底計數的標準誤差。
注：本參數測量所用α參考源為239Pu，參考源活性區為Φ25mm，表面粒子發射率約為102粒子數/（min·2π）；β參考源為90Sr-90Y，參考源活性區為Φ20mm，表面粒子發射率約為102粒子數/（min·2π）。
高壓調節范圍0～1000V，穩定度優于0.5%；
絕緣電阻≥2MΩ；耐壓絕緣度＞1500V；
環境溫度5-40℃；相對濕度＜90%；
電源：交流220V±10%，50Hz，功耗≤20W；