德國E+H料位計工藝特點
由于不同的工業(yè)生產(chǎn)過程的特點不同，所以E+H料位計需針對不同的工藝條件來確定。為了能夠更明確地分析物位儀表,E+H料位計的工作原理、特點和應用環(huán)境，必須對物位測量的工藝要求進行明確分析。
首先我們來分析E+H料位計的工藝特點：
1.E+H料位計液面是規(guī)則表面。但當液體流進、流出時容易產(chǎn)生波動或生產(chǎn)過程中出現(xiàn)起泡、沸騰等變化時同樣也會產(chǎn)生波動。
2.E+H料位計容器內發(fā)生有液體各處密度、黏度或溫度等物理量不均勻的現(xiàn)象。
3.E+H料位計容器內發(fā)生有高壓、高溫、液體黏度過大、大量臟污雜質、懸浮物等。
E+H料位計固體物料的物理、化學性質較復雜，如有顆粒狀的、也有粉末狀的，并且有些介質為大小不均勻的顆粒；固體物料的含水量變化、溫度等也是不均勻的變化；料倉振動、料倉形狀不規(guī)則等。
常見E+H料位計的優(yōu)缺點如下：
E+H阻旋式料位計
優(yōu)點：較可靠；
局限：不耐用。
E+H電容式料位計
優(yōu)點：較耐用；
局限：可靠性較差。
E+H永磁式料位計
優(yōu)點：可靠、靈敏、耐用；
局限：安裝時需垂直。
E+H超聲波物位計
優(yōu)點：非接觸。
局限：粉塵影響/凹凸面影響/噪音非接觸式；
E+H雷達料位計
優(yōu)點：非接觸。
局限：介電常數(shù)有要求/粉塵影響/凹凸面影響；
推薦：采用高發(fā)射頻率的，四線制的雷達
E+H導波雷達物位計
優(yōu)點：對某個點的測量。
局限：介電常數(shù)有要求/掛料/拉力影響；
E+H激光物位計
優(yōu)點：非接觸
局限：粉塵影響/凹凸面影響
E+H射頻導納料位計（電容式料位計）
優(yōu)點：點接觸
局限：介電常數(shù)有要求/時漂/溫漂/掛料/拉力；
推薦：建議采用進口的產(chǎn)品
重錘式料位計：分纜式及帶式兩種
優(yōu)點：直接測量/手動控制
局限：傳統(tǒng)的纜式重錘容易發(fā)生斷錘/埋錘/亂繩
推薦：帶式重錘
E+H射線式料位計
優(yōu)點：非接觸、穩(wěn)定
局限：有污染/價格高
E+H稱重式料位計
優(yōu)點：可以測量質量/體積
局限：抗震問題/物料面狀況不知/價格高
E+H料位計測量工藝
1.E+H料位計物料自然堆積會產(chǎn)生堆積傾斜，所以固體物料的料面是不平整的，很難明確料位的準確高度；物料進出時，存在滯留區(qū)，影響料位zui低位置點的測量。
2.E+H料位計料斗或儲倉中，固體物料內部易存在大的孔隙，形成拱橋。粉料內部易存在小的間隙。前者影響對物料儲量的計算，而后者則在振動或溫度、壓力變化時使物位也隨之變化。
界面測量中常出現(xiàn)的問題是界面不明確，渾濁或泡沫的存在會影響測量結果。此外，容器內攪拌、管道和加熱等設備的存在也會對物位檢測帶來一定的影響，特別是像雷達波、超聲波這些依賴回波信號測量的物位儀表。
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