高溫紅外分析儀，是利用紅外線進行氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測器里的溫度升高不同，動片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個電容檢測器的電信號。這樣
高溫紅外分析儀就可間接測量出待分析組分的濃度。
分析檢測原理
高溫紅外分析儀由兩個獨立的光源分別產(chǎn)生兩束紅外線該射線束分別經(jīng)過調制器，成為5Hz的射線。根據(jù)實際需要，射線可通過一濾光鏡減少背景氣體中其它吸收紅外線的氣體組分的干擾。
高溫紅外分析儀是根據(jù)對紅外線吸收原理制成的一種物理式分析儀器它能連續(xù)測量，測量范圍寬，精度高，靈敏度高，并且有良好的選擇性，因此在工業(yè)生產(chǎn)中得到了廣泛的應用。
高溫紅外分析儀的檢測原理對紅外線都有一定吸收能力但不是整個波段都能吸收，而只是吸收一部分波段，這些波段稱之為特征吸收波段。由于氣體不同，吸收紅外線的波長也不。紅外線分析器就是基于某些氣體地不同波長的紅外線輻射能具有選擇性吸收的特性。當紅外線通過混合氣體時，氣體中的被測組分吸收紅外線的輻射能，使整個混合氣體因受熱而引起溫度和壓力增加。這種溫度和壓力變化與被測氣體組分的濃度有關，把這種變化轉換成其他形式的能量變化，就能確定被測組分的濃度。
比爾定律：
高溫紅外分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測氣體為一個無限薄的平面.強度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為：I=I0e-KCL(比爾定律)式中
I--被介質吸收的輻射強度;
I0--紅外線通過介質前的輻射強度;
K--待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù);
C--待分析組分的氣體濃度;
L--氣室長度(赦測氣體層的厚度)
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