半導體在電視、智能設備、顯示屏等方面有著廣泛的應用。那么我們該如何識別半導體沾污、獲得應力表征、膜厚分析、超晶格結構、晶體管、介電材料等信息呢？

10月30日，4大講師深度剖析

如何利用光譜技術分析半導體材料？

只要準備電腦和網絡，即可參與

1 孫正飛

研究方向：光學光譜、熒光等

負責光學光譜儀的應用支持，光學背景深厚。可根據用戶實際需求提供優異靈活的的光譜測試方案，包括光致發光、拉曼、熒光、透射/反射/吸收等。

2 文豪博士

研究方向：橢圓偏振光譜

畢業于上海硅酸鹽研究所，擅長光譜橢偏建模、薄膜分析，長期為用戶提供橢偏技術培訓等工作。
 

3 武艷紅

研究方向：輝光、熒光等

輝光放電光譜儀和熒光光譜儀的，長期從事樣品測試及用戶培訓工作，經驗豐富。可根據客戶需求提供合適的儀器配置及解決方案。

4 魯逸林博士

研究方向：SPRi、拉曼等

從事拉曼光譜、AFM和表面等離子共振成像的，負責樣品分析、數據解析、應用方案設計、用戶培訓等，在材料、生物、鋰電池等領域積累了豐富的經驗。

報 名 方 式

手機識別二維碼報名即可 

手機 · 掃描 · 報名

HORIBA科學儀器事業部

結合旗下具有近 200 多年發展歷史的 Jobin Yvon 光學光譜技術，HORIBA Scientific 致力于為科研及工業用戶提供先進的檢測和分析工具及解決方案。如：光學光譜、分子光譜、元素分析、材料表征及表面分析等先進檢測技術。今天HORIBA 的高品質科學儀器已經成為科研、各行業研發及質量控制的。