HORIBA出席2017 中國納米科學技術會議
8月29日,第七屆中國納米科學技術會議(ChinaNANO)在北京召開,HORIBA Scientific贊助并應邀出席。自05年首屆舉辦后,中國納米科學技術會議已經發展成為具有較強世界影響力的綜合性品牌會議。
本次大會碳納米管分會,HORIBA資深工程師丁欣為大家帶來報告:Tip enhanced optical spectroscopy,詳細介紹了針尖增強拉曼光譜(TERS)技術在碳納米管和其他二維材料中的應用。
HORIBA 工程師丁欣
會場外HORIBA也特別展出了SZ-100納米粒度儀,并專設技術人員交流答疑。納米科技的研究與發展是一個停歇的追求,從分子到原子水平對樣品粒徑進行控制,可以獲得更新、更好、更先進的材料和產品,SZ-100系列納米粒度儀可提供精細粒度檢測,助力納米科技研究。
HORIBA SZ-100納米粒度儀
SZ-100系列納米粒度儀的光學系統與光學元件,提供更強的信號強度(波長更短)和寬的動態范圍;先進的信號處理系統可以將光學信號的轉化為電泳遷移率及Zeta電位,無需人工計算或比對粒子運動速度。
HORIBA展臺
本次大會,共計有來自30多個國家和地區的2000多名代表出席。HORIBA高品質科學儀器和的產品介紹獲得與會者的*。
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附大會主題報告題
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Carbon Nanomaterials
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Inorganic Nanomaterials and metal-organic Frameworks
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Self-Assembly and Soft Nanomaterials
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Nanocatalysis
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Nano-Composites and Applications
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Energy Nanotechnology
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Environmental Nanoscience and Nanotechnology
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Nanophotonics and Plasmonics
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2D Materials beyond Graphene and Nanodevices
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Nanocharacterization
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Standards and Metrology
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Modeling and Simulation of Nanostructures
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Nanobiotechnology and Nanomedicine
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Nanotechnology for Bioimaging and Diagnostics
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Safety and Health of Nanomaterials
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Printing of Nanomaterials and Applications
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Optoelectronic nanomaterials and devices
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Bioinspired Interfacial Materials and Devices
>>>>HORIBA科學儀器事業部
結合旗下具有近 200 多年發展歷史的 Jobin Yvon 光學光譜技術,HORIBA Scientific 致力于為科研及工業用戶提供先進的檢測和分析工具及解決方案。如:光學光譜、分子光譜、元素分析、材料表征及表面分析等先進檢測技術。今天HORIBA 的高品質科學儀器已經成為科研、各行業研發及質量控制的。