橢圓偏振光譜儀主要適用于科研院所的信息光電子功能薄膜、體材料的光學(xué)性質(zhì)和結(jié)構(gòu)特性研究，可被研究材料種類包括：金屬和合金、元素和化合物半導(dǎo)體、絕緣體、超導(dǎo)體、磁性和磁光材料、有機(jī)材料、太陽(yáng)能薄膜、多層薄膜材料、液體材料等。在測(cè)量中，可按研究條件同時(shí)對(duì)入射角和波長(zhǎng)進(jìn)行自動(dòng)精細(xì)掃描，從而增加研究的靈活性，便于用戶獲得更多的光譜信息進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，提高研究的質(zhì)量和可靠性，并實(shí)現(xiàn)無(wú)接觸無(wú)損傷測(cè)量。

 

    橢圓偏振光譜儀的性能指標(biāo)達(dá)均已達(dá)到同類技術(shù)的先進(jìn)水平，產(chǎn)品國(guó)內(nèi)及海外市場(chǎng)。

 

橢圓偏振光譜儀主要特點(diǎn)

 

    WINXP友好操作界面

    實(shí)測(cè)光學(xué)常數(shù)種類：復(fù)折射率、復(fù)介電函數(shù)、吸收系數(shù)、反射率。

 

橢圓偏振光譜儀主要用途

 

    1.各種功能材料的光學(xué)常數(shù)測(cè)量和光譜學(xué)特性分析；

    2.測(cè)量薄膜材料的折射率和厚度；測(cè)量對(duì)象包括：金屬、半導(dǎo)體、超導(dǎo)體、絕緣體、非晶體、超晶格、磁性材料、光電材料、非線性材料；測(cè)量光學(xué)常數(shù)：復(fù)折射率的實(shí)虛部、復(fù)介電常數(shù)的實(shí)虛部、吸收系數(shù)a、反射率R。