波長色散光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優點是不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數4以上的所有化學元素，分析精度高，樣品制備簡單。
波長色散光譜儀的原理：
X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生熒光(次級X射線)。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發源，分光系統，探測器系統，真空系統和氣流系統等部分組成。根據分析晶體的聚焦幾何條件不同,分為非聚焦反射平晶式,半聚焦反射彎晶式，全聚焦反射彎晶式，半聚焦透射彎晶式等。其原理是:試樣受X射線照射后，元素的原子內殼層電子被激發，并產生殼層電子躍遷而發射出該元素的特征X射線，通過探測器測量元素特征X射線的波長(能量)的強度與濃度的比例關系，便可進行定量分析。
波長色散光譜儀的特點：
創新的測角儀設計
保護的創新型鋼帶傳動系統，可以提供穩定、無回程間隙的旋轉運動，以高精度的角度定位要求；
θ/2θ兩軸獨立運動，并配合伺服電機和圓光柵構成閉環系統；
永磁式交流伺服電機提供業界的高速平滑運動；
圓光柵測角重復性可達±0.0002度，精度達±0.0006度，足以的角度測量性能；
數字多道分析儀
12位，80M/s的模數轉換采樣率，是業界高分辨率的信號采樣系統，了信號采集的完整性
基于高速FPGA框架以及可靠的數字信號處理算法，4096道分析系統足以從噪聲中篩選正確的X射線信號
大動態范圍測量，有效減少了探測器增益調節次數
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