抗干擾介損測試儀抗干擾解析
標準回路由內置高穩定度的標準電容器與采樣電路組成,被試回路由被試品和采樣電路組成。由單片機運用計算機數字化實時采集方法,對數以萬計的采樣數據處理后進行矢量運算,分別測得標準回路電流與被試回路電流幅值及其相位關系,并由之算出試品的電容值(Cx)和介質損耗角正切(tgδ),測量結果可靠。現場有干擾時,先利用移相、倒相法減小干擾的影響,再將被試回路測得的電流Ix’與單獨測得的干擾電流Id矢量相加,得到真正的測量電流Ix,進而得出正確的測量結果。可根據不同的測量對象和測量需要,靈活地采用多種接線方式。如測量非接地試品(正接法)時,“Lv”(E)點接地;而測量接地試品(反接法)時,則“Hv”點
在交流電壓作用下,電介質要消耗部分電能,這部分電能將轉變為熱能產生損耗。這種能量損耗叫做 電介質的損耗。當電介質上施加交流電壓時,電介質中的電壓和電流間存在相角差Ψ,Ψ的余角δ稱為介質損耗角,δ的正切tgδ稱為介質損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質損耗的參數。儀器測量線路包括一標準回路(Cn)和一被試回路(Cx),如圖1所示。標準回路由內置高穩定度標準電容器與測量線路組成,被試回路由被試品和測量線路組成。測量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉換器組成。通過測量電路分別測得標準回路電流與被試回路電流幅值及其相位等,再由單片機運用數字化實時采集方法,通過矢量運算便可得出試品的電容值和介質損耗正切值。