首頁 >> 供求商機
| 材 料 | 能量范圍 | 每單位能量的信號輸出 | 信號衰減時間常數 | 備 注 |
| Silicon | 5~25keV | zui高，直接轉化 | 1us（非偏置） | 光電二管直接探測，不需要閃爍晶體 |
| Gadox （Tb） | 20~100keV | 類似于CsI | 2 -3ms | 熒光條，無法進行像素分隔來防止串擾 |
| CsI （Tl） | 40~160keV | 光轉換效率 | 2個不同的衰減時間，微秒級 | 像素被分隔成陣列，以減少串擾 |
| CdWO4 | 150~9MeV | zui低，約為CsI的25% | 20us | 像素被分隔成陣列，以減少串擾，費用zui高 |
| 探測器間距 | 0.4mm，0.8mm，1.6mm，2.5mm |
| 晶體類型 | Silicon，Gadox （Tb），CsI （Tl），CdWO4 |
| 積分時間（單次采樣） | 100us – 50ms |
| 信噪比 | 30000:1 （XDAS-V2-1.6，不帶探測器，10pF） 25000:1 （XDAS-V2-1.6，帶上探測器，10pF） |
| zui大數據讀出速率 | 20MB/s |
| 串擾 | <0.1%（10pC增益） |
| 數據輸出位 | 16 Bit |
| 輸出接口 | USB、千兆以太網或標準圖像采集卡 |
| 產品優勢 | 帶給用戶的好處 |
| 采用的小信號搜集技術，產品質量好，性能穩定 | 提升用戶產品的性能及穩定性，降低售后維護成本 |
| 多種探測器間距（0.4mm，0.8mm，1.6mm，2.5mm等）、單能/雙能可選，晶體的種類和尺寸可選 | 可應用的領域更廣 |
| 模塊化設計，每套系統中zui多包含7塊SP板，每塊SP板可連接24塊DH板，zui高21500個探測通道 | 用戶系統設計靈活，可大可小，非常方便 |
| 16bit 數據輸出 | 動態范圍更寬，可看到更多的細節 |
| 信噪比高，不帶探測器的信噪比可達30000:1 | 得到的圖像更加清晰 |
| 掃描速度快，100us的脈沖成型時間 | 能高速成像應用的要求 |
| 多種信號輸出接口可選 | 系統配置豐富 |
| 探測器間距 | 2.5mm，其他尺寸可根據客戶要求定制 |
| 晶體類型 | Silicon，Gadox （Tb），CsI （Tl），CdWO4 |
| 積分時間（單次采樣） | 320us – 1s |
| 電子噪聲 | 6ppm （不帶探測器，350pC） 25ppm （帶上探測器，350pC） |
| zui大數據讀出速率 | 40MB/s |
| 線性 | <0.1% |
| A/D轉換位 | 20 Bit |
| 輸出接口 | USB, PCI數據采集卡或千兆以太網 |
16