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X射線線陣列探測系統
英國Sens-Tech 公司是X 射線探測器和信號數據采集系統的專業開發商、供應商，其在X 射線線掃描成像和CT 領域擁有豐富且成功的經驗和技術。Sens-Tech 的系統集成信號探測、模擬信號放大、數字信號輸出于一體，有多種控制功能可選擇，可方便的與計算機連接，實現圖像或信號的數字化處理。
X射線線陣列探測系統
探測器有硅光電二管陣列和閃爍晶體組成。二管陣列可以是一維或者兩維掃描方式， 由具體應用決定。選擇探測器需要充分考慮光譜響應、電容、暗電流、靈敏度、探測面積以及串擾的影響，并選用與閃爍晶體的發射波段相匹配的探測器。并盡可能降低暗噪聲，減小偏移量，獲得的響應。同時，讓各探測單元的探測面積和串擾達到*化。
閃爍晶體根據探測能量的不同，厚度和尺寸可以根據用戶的要求進行定制。
Sens-Tech 公司目前主要提供四種X 射線數據采集產品：XDAS-V3 系列、XDAS-HE 系列、LINX 系列
Sens-Tech 標準產品的參數
材料 | 厚度 | 能量范圍 | 每單位能量的信號輸出 | 信號衰減時間 | 備注 |
Silicon | 300μm | 5-30keV | zui高，直接轉化 | 1us (非偏置) | 光電二管直接探測，不使用閃爍晶體 |
Gadox(Tb) | 0.31mm | 20-100keV | 近似CsI | 2-3ms | 熒光條，無法進行像素分割來防止串擾 |
Gadox A | 0.2mm | 低于Gadox(Tb)20% | ＜1ms |
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Gadox B | 0.4mm | 高于Gadox(Tb)10% | ＜1ms |
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CsI(Tl) | 0.4-4mm | 40-160keV | 光轉換效率zui高 | 2個不同的衰減時間， 微妙級 | 像素被分割成陣列，以減少串擾 |
CdWO4 | 2.5-30mm | 150keV-9MeV | 約為CsI的25% | 20us | 像素被分割成陣列，以減少串擾，價格昂貴 |
GOS | 2.9mm | 100-200keV | 20% than CdWO4 | 3us | 抗強輻射 |
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