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　　膜厚怎么測量？

　　基體表面鍍膜或氣相沉膜是材料表面工程中的重要技術，膜的厚度直接影響其性能，故需對其進行有效測量。目前常用的膜厚測量方法主要有磁性法、渦流法、超聲波測厚法等。其中渦流膜厚測量儀，由于采用了單一渦流法的渦流涂層測厚儀可以實現無損地測量非磁性金屬基材上的各種非導電覆蓋層的厚度，如油漆，橡膠，塑料，陽極氧化膜等，常應用于測量航空器，船舶，汽車，門窗以及各種鋁制品表面的涂層，陽極氧化層還有油漆的厚度。

　　

　　工作原理：

　　物質在被一定波長的X射線照射時，元素將處于激發狀態而發射出光子，形成一種特征X熒光射線。每一種元素的能量都是一一對應的，探測器在接收到元素的特征X熒光射線之后，可以通過其中的光子能量進行定性分析，還可通過其中的光子量值進行定量分析。

　　由于各個元素的特征X射線能量恒定，和元素有一一對應的關系，所以我們可以根據所得到的特征X熒光射線能量，對被檢物進行定性分析。通過檢測到的光子數量，可以對被測物進行定量分析。

　　1、涂覆層成分及厚度分析：對多層精準測試：多層合金、上下元素重復鍍層、輕元素和有機物涂鍍層及滲層的厚度及成分分析；

　　2、環保檢測解決方案：對各種重金屬及有害元素進行檢測，測試檢出限可達1ppm以下；

　　3、全元素成分分析：可對各種合金、礦石、土壤、珠寶首飾等等進行元素成分分析。