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   2019年8月，*套奧地GETec公司掃描電鏡原位AFM探測系統（AFSEM）在中國科學院上海硅酸鹽研究所曾毅教授課題組順交付使用。

奧地GETec公司掃描電鏡原位AFM探測系統現場安裝培訓

納米 新探索   

    奧地GETec公司發布的AFSEM是款緊湊型，適用于真空環境的AFM產品，能夠輕松地與SEM結合為體，擴展SEM樣品成像和分析能力，實現了AFM和SEM的功能性互補。AFSEM技術與SEM技術的結合，是人們對納米新探索的重要工具之。

GETec AFSEM 系統安裝示意圖及實物圖

    中國科學研究院硅酸鹽研究所曾老師課題組主要從事材料顯微結構表征技術研究，在掃描電鏡使用操作方面具有豐富的經驗。本次交付的AFSEM系統結合了課題組已有的美國FEI電鏡Versa™ 3D 雙束掃描電鏡，該強有力地結合，可將SEM已有的樣品表面分析成像功能擴展到AFM探測域，同時也將幫助曾老師課題組在材料顯微結構方面的研究，我們也祝愿曾老師在未來的科研工作中取得累累成果。

    同時，GETec公司也非常關注此次安裝，同期9月，奧地政府經濟商會訪問團在上海大學參與政府組織的學術研討活動，會后邀請其國內外家人士參觀曾老師課題組，并順舉辦有關GETec 技術應用研討會，將奧地公司及研究機構與上海大學及研究機構緊密聯系在起。研討會上，奧地GETec公司介紹了AFSEM的新發展并討論其應用。

奧地GETec公司國內舉辦研討會及現場儀器操作演示 

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