研發背景：

　　在使用傳統的原子力顯微鏡（AFM）對大型工業產品進行形貌表征時，由于受到傳統AFM樣品臺尺寸的限制，首先需要對工業產品進行一定程度的破壞來提取一個可放置在AFM上的樣品，再對該樣品進行形貌表征。然而，一些工業產品如果對其提取樣品，會帶來災難性的后果，如飛機機翼，各類發動機和車船軸承。同時，對于大型工業產品而言表面形貌表征往往是分析材料失效，斷裂分析和表面保護等領域重要的檢測手段。

　　為了解決這一問題，加拿大ICSPI公司設計和生產的便攜式Vertex原子力顯微鏡（AFM），基于其研發的芯片式自感應探針技術，擺脫了傳統AFM對激光的依賴，帶給了傳統AFM革命性的變化！ Vertex便攜式芯片原子力顯微鏡（AFM）具有小巧靈活、方便攜帶，操作簡單，掃描速度快，可直接掃描工業產品，無需維護、無需減震、超級穩定等優點，適合各類工業產品的表面檢測和野外作業等場景的3D表面形貌快速成像分析。Vertex AFM所采用的創新技術很大程度上降低了傳統AFM的復雜操作，也拓寬了傳統AFM的應用范圍！

Vertex便攜式原子力顯微鏡（AFM）特點：

　　可直接掃描大型工業產品

　　研發的AFM微納機電芯片技術，使得Vertex原子力顯微鏡（AFM）可以在大尺寸工業產品上直接進行形貌掃描，無需進行破壞性制樣。

　　便攜，簡單，易用

　　Vertex自帶電池電源，可通過無線信號對Vertex進行操作，設備方便攜帶，尺寸僅為20 x 15 x 10 cm，僅需三步就可對樣品進行納米級表面形貌表征。

　　更高性價比

　　掃描速度快，可掃描大尺寸樣品。一個針尖可以進行上千次掃描，無需繁瑣的更換針尖操作和其他后期維護工作。

應用場景：

設備參數：

　　尺寸: 20 x 15 x 10 cm

　　成像模式: 輕敲模式(Tapping)

　　成像結果: 形貌圖, 相位圖

　　X-Y-Z單次掃描范圍: 20 x 20 x 10 μm

　　分辨率: < 0.5 nm

　　掃描速度: 80 sec

　　分辨率高達: 1024 x 1024 pixels

　　無線連接協議: WIFI 802.11n, Bluetooth 5

　　自身電池容量: 12,000 mWh

　　充電電源需求: 110-240 VAC

　　操作系統要求: Windows 10, 11

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