17當前位置：> 供求商機> XDS OptiProbe-XDS IOPA 近紅外光譜分析儀
儀器特性及優勢
XDS NIR 技術確保使用簡單和定標的無縫轉移
快速斷開式探頭，優化了固體和液體的測量
無需樣品制備，無需試劑，無任何廢棄物
面向集中數據庫管理的網絡分析儀
熱插拔模塊 — 幾分鐘內即可完成更換，不會影響性能
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儀器簡介
采用 XDS TOPA 近紅外光譜分析儀取代常規試驗，您可以大大縮短產品停留時間，使實驗室分析時間zui小化。
XDS TOPA 近紅外光譜分析儀是特別針對水狀產品、透明液體、溶劑以及粘性樣品的實驗室監測而設計的。XDS TOP 近紅外光譜分析儀非常適合用于中試過程應用和生產線的測量。
有了這種分析儀，可以很容易地使用一次性樣品瓶分析粘性樣品，縮短了清理時間。利用選配的樣品瓶加熱器模塊，該系統還能在數據分析前，提供無人值守的樣品加溫平衡（zui高可達 200 °C），提高了實驗室效率。
XDS NIR 技術不僅帶來了*的分析性能，加快了定標方法的研發，縮短了實施時間，保證了定標的無縫轉移。
使用優良、界面友好、具有聯網能力的 Vision® 軟件可以輕松實現鑒定、定性和定量等方法。只需按下一個按鍵或單擊鼠標就能完成精準的分析。
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