電阻性能測定儀

制造標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1410-2006固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法

產(chǎn)品名稱：電阻性能測定儀

產(chǎn)品類型：計算機控制

產(chǎn)品型號：DGZ-40

一、 概述：

　　 計算機控制電阻性能測試儀是用來測量絕緣材料電阻隨溫度的變化性能的測試儀器。該儀器主要由三部分組成：分別為數(shù)字高阻計、加熱控制系統(tǒng)、計算機處理系統(tǒng)。PTC計算機控制電阻性能測試儀在設(shè)計上采用了許多新技術(shù)，使用微處理器控制測量提高了測量性能及測量速度，儀器還可測量微電流及直流電壓，快速自動量程轉(zhuǎn)換、超量程提示等功能。適合于各行各業(yè)防靜電表面電阻、體積電阻、絕緣材料電阻、絕緣材料電阻隨溫度的變化性能的測試（測量試樣電阻性能隨溫度的變化的特性曲線）。計算機可以實現(xiàn)對數(shù)據(jù)進行存取，打印，數(shù)據(jù)分析等功能。

　　加熱系統(tǒng)分為上下兩層，由相互獨立的兩套加熱系統(tǒng)組成。控溫系統(tǒng)DTB4848控溫表實現(xiàn)，溫度由PT100采集傳給控溫表。通過計算機的串口把數(shù)字高阻計和控溫表的測量數(shù)據(jù)傳給計算機，計算機也可把控制命令傳給數(shù)字高阻計和控溫表，以實現(xiàn)計算機控制。也可設(shè)置控溫表的參數(shù)使控溫表獨立的控制加熱系統(tǒng)。如按一定的升溫數(shù)率升溫。

一、主要技術(shù)參數(shù)：

1、可對Ф40mm以下或10×10×10mm3PTC樣品進行R-T特性試驗儀器電阻測量范圍：0.01Ω-10¹⁵Ω±3%

2. 溫度控制范圍：室溫-300℃   
3. 分辨率：0.1℃
4. 控溫方式：恒溫±0.5℃
5. 勻速升溫速率：0.5-5℃/分
6. 勻速升溫精度：±1℃
7. 計算機自動PTD調(diào)節(jié)，曲線CRT顯示，數(shù)據(jù)存儲、打印。

二、主要配置：

1. 主機一臺
2. 計算機一臺（聯(lián)想+19寸液晶+1G內(nèi)存）
3. 打印機一臺（惠普）
4. 產(chǎn)品使用說明書一份
5. 產(chǎn)品合格證一份

6.產(chǎn)品配件若干