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當前位置：> 供求商機> BEX-8501-塞曼效應實驗裝置
實驗簡介
該實驗裝置以汞燈的546.1nm 譜線為對象，研究塞曼效應。汞燈發出的譜線經過匯聚透鏡，將發散的光線適當的匯聚，透過偏振片，經過濾光片濾光后形成單色光，進入F-P 標準具，形成干涉圓環，zui后由鏡頭和CMOS 相機成像。該裝置包含一個可調恒流電源，通過調節電流控制磁場的大小。當磁場足夠強時，能級開始分裂，產生不同的譜線，每一級干涉圓環分裂成多個干涉圓環，由專業的軟件進行圖像采集和數據分析，得到電子荷質比e/m 的數值。
將電磁線圈旋轉90°，重新微調光路，可以平行于磁場方向觀測塞曼效應。
儀器特點
緊湊型設計
采用工業級高強度軌道，配合精巧的光機械設計，比傳統的裝置至少減少了1/3的空間。
采用電磁場，可獲得0~1.2T的勻強磁場, 并可以120o旋轉
電磁線圈為整套裝置提供連續可調的0-1.2T的勻強磁場，并有0-120o可旋轉結構，可以對橫向及縱向塞曼效應現象進行觀測。
高達1/100λ的法布里-帕羅標準具，可獲得K級至K-2級的9條分裂譜線
F-P標準具的性能保證了譜線分裂明顯，線條清晰銳利。
CE 安全認證
典型實驗內容及數據
1. 垂直于磁場方向觀測塞曼效應（Л線 ）
2. 平行于磁場方向觀測塞曼效應（σ線）
3.根據K級至K-2級的9條分裂譜線，可驗證荷質比 e/m.
荷質比 e/m 測量結果的相對誤差小于 5%。
技術參數
型號 | 部件 | 參數 |
BEM-5008 | CMOS相機 | 尺寸1/3”，COMS Sensor，像素640×480，水平掃面線650tvl。通過USB2.0與電腦通信，實現USB直接供電，并能方便、快捷的數據采集需要 |
50mm定焦鏡頭 | 焦距50mm，相對孔徑1:1.4； | |
BEM-5405 | 聚光鏡 | f=131.2mm； |
BEM-5403 | 干涉濾光片 | 中心波長為546.1nm，孔徑為32mm，表面無污染，裂紋等； |
BEM-5203 | 精密調節架 | Φ45mm, 2D |
BEM-5013 | 水平可調精密調節架 | Φ45mm, Travel=36mm , 3D； |
BEM-5402 | F-P標準具 | 中心波長為546.1nm，分裂條紋應銳利清晰； |
部件列表
描述 | 型號 | 數量 |
攝像單元(含鏡頭、CMOS相機), f=50mm, 兩百萬像素 | BEM-5008 | 1 |
法布里泊羅標準具, 546.1nm | BEM-5402 | 1 |
干涉濾光器, 546.1nm | BEM-5403 | 1 |
偏振器 | BEM-5404 | 1 |
聚光鏡, f=131.2mm | BEM-5405 | 1 |
精密調節架, Φ45mm, 2D | BEM-5203 | 1 |
水平可調精密調節架, Φ45mm, Travel=36mm , 3D | BEM-5213 | 1 |
導軌，長600mm | BEM-5201-06 | 1 |
托板，寬50mm | BEM-5204-50 | 3 |
升降調節架，可調范圍25mm | BEM-5205-25 | 3 |
連接桿，長90mm | BEM-5209-09 | 3 |
筆形汞燈, 10A, 3W | BEM-5009 | 1 |
電磁線圈, 5A, 1.2T | BEM-5010 | 1 |
連接塊 | BEM-5202 | 1 |
可調直流恒流源, 6A | BEM-5012 | 1 |
塞曼效應軟件 | BEM-5601 | 1 |
訂購指引
描述 | 型號 | 數量 |
塞曼效應實驗裝置 | BEM-8501 | 1 |
不包含在上述列表中的*件 | ||
特斯拉計，0-2000mT, 精度0.1mT | BEM-5032 | 1 |
電腦 | 1 | |
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