近期，安東帕原子力顯微鏡全新上市，與安東帕流變儀、小角X-射線衍射儀以及納米粒度儀等一起豐富了納米表征測量的產品線組合。
9月，安東帕特邀Betty Petrillo博士來到上海、北京為用戶帶來顆粒度和Zeta電位巡回技術講座。現火熱報名中，安東帕邀您參加！
Seminar主題
How to Measure Particle Size and Zeta Potential Better
怎樣更好地測試顆粒度和Zeta電位
Dr. Betty Petrillo
Betty Petrillo博士
Product Manager, Anton Paar GmbH
產品，奧地利安東帕公司
到目前為止，顆粒樣品zui重要的物理特性就是顆粒粒度。粒度分布測量通常用于多個行業，顆粒度常常是許多產品制造過程中的關鍵參數。粒度分布對材料性能有著直接的影響。
Zeta電位通常用于確定固液界面之間的電荷。它是膠體懸浮液穩定性的重要指標。了解zeta電位對優化工藝過程和質量控制有著重要意義。
在此次講座中，我們會涉及顆粒度和zeta電位的原理以及應用。并為您介紹代表現代技術的顆粒分析儀：LitesizerTM系列納米粒度及zeta電位分析儀。
So far, particle size is the most significant physical characterization for particle. Particle characterization is widely used in many industries. Particle size is usually the key parameter in producing process. Particle size dispersion has a direct effect on material properties.
The zeta potential is commonly used to determine the charge at the solid-water interface. It’s a key indicator of the stability of colloidal dispersions. Knowledge of zeta potential is important for optimizing processes and for quality control.
In this seminar we cover particle size and zeta potential principle and application. And introduce to you a newest modern technology instrument for particle characterization: the Litesizer™ series particle analyzer.
北京站
時間：
Monday, Sept 4, 2017
2017年9月4日，星期一
地點：安東帕中國北京辦公室，朝陽區八里莊陳家林甲2號尚8里文創園A座202室
上海站
時間：
Wednesday, Sept 6, 2017
2017年9月6日，星期三
地點：安東帕中國上海辦公室，合川路2570號科技綠洲三期2號樓11層
會議日程
9:30-9:45
| Introduction to Anton Paar and PC product line 安東帕公司和PC產品線介紹 |
9:45-10:45 | LitesizerTM series instrument principle LitesizerTM系列儀器原理講解 |
10:45-11:00 | Tea break 茶歇 |
11:00-12:00 | LitesizerTM series instrument application LitesizerTM系列儀器應用案例 |
12:00-13:30 | Lunch break 午餐 |
13:30-15:00 | Instrument demo 儀器演示 |
15:00-15:15 | Tea break 茶歇 |
15:15-16:30 | Customer operation and measurement 客戶操作和測試 |
：021-6485 5000
：市場部
下載回執并郵件至：marketing.cn@anton-paar.com
回執和郵件標題格式：
9月*日怎樣更好地測試顆粒度和Zeta電位”交流會（**專場） - **公司/機構名稱或 傳真至：021-6485 5668
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