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這款低溫UHV掃描探針顯微鏡是超高真空室內應用設計的高真空低溫SPM掃描探針顯微鏡。樣品預處理和探針清洗可在超高真空室中進行，使超低溫STM/AFM能夠進行原子或分子水平的分辨率觀測。
低溫UHV掃描探針顯微鏡特征
廣泛適用于He溫度STM/AFM測量
用戶友好，低溫性能和穩定性優異
光學輻照采用透鏡級，適用于各種發光測量
提供兩個原位沉積端口，適用于低溫沉積/吸附
新型高效低溫恒溫器
LHe消耗量為0.7升/天
兩次LHe充裝之間的間隔時間大于12天
充液氮間隔時間>1周
低溫UHV掃描探針顯微鏡應用
超低溫STM，非彈性隧穿光譜（IETS）
應用于各種AFM功能（MFM、KFM、SCM等）
光激發STM、AFM測量
隧道電流誘導的超低溫高分辨光發射，增強拉曼光譜
原位沉積，原子、分子的吸附
STMTopographic Image ofSi(100)
Temperature: 63 K
Field of View: 3 nm × 3 nm
Dr. YOKOYAMA in Yokohama City Univ.
STMMolecular Structure and Topographic Image of COOH-Porphyrin-Tetramer
Temperature: 63 K
Field of View: 11 nm × 11 nm
Dr. YOKOYAMA in Yokohama City Univ.
低溫UHV掃描探針顯微鏡規格參數
分辨率: XY<2pm, Z<0.2pm
磁場：無
高真空：<10^-8Pa
超低溫：6-10K固定溫度
STM: 可選配
其它：可以配備安裝透鏡，用于連接其它光學儀器
| 最大掃描范圍 (X×Y×Z) | 1.7 × 1.7 × 0.25 µm3 @ 5 K |
|---|---|
| 分辨率 | Atomic resolution |
| 底座基礎溫度 | 5 K |
| 底座基礎壓力 | Obs. Prep. Ch. 3.0×10-8 Pa, LLC 1.3×10-5 Pa |
| STM控制器 | Nanonis™ SPM控制系統 |
| 可選項 | |
| AFM功能 | Tuning fork NC-AFM |
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