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這款雙折射偏振態測試儀是多功能光譜偏振態測試儀,Spectroscopic Polarimeter,可測量400nm~800nm范圍每個波長的偏振態。該雙折射偏振態測試還具有斯托克斯偏振態分析、穆勒矩陣測量和映射mapping測量等功能，非常適合液晶顯示器、投影儀、偏振光學元件、偏振光學、晶體、生物樣品、熒光偏振等偏振態測量分析。
雙折射偏振態測試儀特點
•無需校準,儀器在整個波長范圍內進行了校準。
•波長分辨率高達2nm,采用分光計代替帶通濾波片。
•可測量發散角和散射光,不僅可以測量準直光,還可以測量各種物質發光和反射光。
•用戶友好軟件，控制軟件非常易用,便于用戶控制和查找結果,測量結果存儲在csv文件中。
各種偏振能力測量
•雙折射測量：在0～10萬nm量級范圍內，可同時測量快軸方向和延遲量。
•穆勒矩陣測量：可以進行更高水平的偏振分析。
•Mapping繪圖能力:自動XY工作臺可選配,方便樣品偏振特性的分布。
客戶訂制化系統
我們可以對標準斯托克斯偏振測量儀 按照客戶要求進行定制,比如紫外-近紅外（UV-NIR）偏振態測量儀、用于測量微弱光的高靈敏度斯托克斯偏振測量儀系統、連接到顯微鏡上的斯托克斯偏振測量儀系統等等。
偏振樣品的高級分析
利用外加的偏振態發生器（PSG）和軟件可以測量樣品的偏振特性。斯托克斯偏振測量儀的PSG和測量頭單元可自由布置。它為需要構建適合多種應用的測量系統的用戶提供了方便。從測量的幾個stokes參數可以計算出如下偏振特性。
線二色性——線偏振光吸收
圓二色性——圓偏振光的吸收
線性雙折射——相移（線性?圓偏振）
旋光——線偏振的旋轉
去極化——降低DOP的能力
雙折射偏振態測試儀規格
測量參數 斯托克斯參數（S0，S1，S2，S3），橢圓度，偏振方向，偏振度（DOP，DOLP，DOCP），偏振消光比
數據繪圖 圖形（波長v.s.參數），圖形（數據點v.s.參數數量），龐加萊球，Ellips視圖，警報（低光，飽和時）
特色功能 單次掃描，連續掃描，確認掃描，自動曝光
斯托克斯偏振計
波長范圍 400～800nm
波長分辨率 <2nm
波長數 1500
最小測量時間 6秒
高精度模式測量時間 >20秒
精度 <2%
重復精度 0.01@3σ（斯托克斯參數）
方向精度 ±0.2度（基準面為底面）
測量原理 波片旋轉、波片和分析儀旋轉
雙折射偏振計
原理 雙斯托克斯數據分析
波長 與斯托克斯偏振計相同
測量時間 斯托克斯測量值的2倍
遲滯范圍 0～λ/2納米，使用擬合方法，最大值為100000nm
快速軸范圍 ±90度
重復性 1度（延遲）
穆勒矩陣偏振計可選
原理 四斯托克斯數據分析
波長 與斯托克斯偏振計相同
測量時間 斯托克斯測量值的4倍
重復性 ±0.01（16個矩陣元素）
數據分析 線性二向衰減,圓形二向衰減，線性雙折射，圓雙折射，去偏振
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