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干涉膜厚儀是一種基于光學(xué)干涉現(xiàn)象進(jìn)行測(cè)量薄膜厚度的儀器
干涉膜厚儀是一種通過光學(xué)干涉原理來測(cè)量材料表面干涉膜厚度的儀器設(shè)備。具體原理是采用光波在空氣和待測(cè)物質(zhì)表面發(fā)生反射時(shí)所產(chǎn)生的干涉現(xiàn)象，通過監(jiān)測(cè)光波的干涉程度，就可以得到待測(cè)物質(zhì)表面的膜厚度。
干涉膜厚儀基于光學(xué)干涉現(xiàn)象進(jìn)行測(cè)量。當(dāng)一束光照射到薄膜上時(shí)，部分光在薄膜表面反射，部分光透過薄膜并在底面反射回來，兩束光相遇時(shí)產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。由于薄膜的折射率不同，兩束光在薄膜中行進(jìn)的路徑長(zhǎng)也不同，因此會(huì)產(chǎn)生相位差，這個(gè)相位差就決定了干涉的強(qiáng)度。通過分析干涉圖案或干涉條紋，可以計(jì)算出薄膜的厚度。
一般來說，干涉膜厚儀主要由光源、分光器、反射器以及檢測(cè)系統(tǒng)等組成。其中，光源可以是白熾燈或者激光，分光器則可以將光源分為兩條不同的路徑，一條是參考光路，另一條是待測(cè)光路。反射器則將待測(cè)物質(zhì)的反射光聚焦到相應(yīng)的檢測(cè)器上，這樣就可以完成對(duì)干涉膜厚度的測(cè)量。
干涉膜厚儀通常由以下幾個(gè)部分組成：
光源：提供穩(wěn)定的光束，通常采用激光、LED等作為光源。
干涉儀：用于形成干涉圖樣。
探測(cè)器：用于接收干涉光，通常為光電探測(cè)器。
數(shù)據(jù)處理單元：對(duì)探測(cè)器輸出信號(hào)進(jìn)行轉(zhuǎn)換和處理的電子單元。
顯示器：將膜厚結(jié)果顯示給用戶。
在使用干涉膜厚儀之前需要進(jìn)行設(shè)備的校準(zhǔn)，校準(zhǔn)的目的是確定不同香型的反射率值以及準(zhǔn)確的光程差(即參考光路和待測(cè)光路的光程差值)。
使用干涉膜厚儀時(shí)，需要先將待測(cè)物質(zhì)放在儀器的樣品架上，并選擇對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)和功率，設(shè)定測(cè)量程序，然后啟動(dòng)測(cè)量程序，待測(cè)量完成后，可以直接讀取測(cè)量結(jié)果。
干涉膜厚儀作為一種常用的測(cè)量?jī)x器，可以準(zhǔn)確快速地測(cè)量物質(zhì)表面干涉膜厚度，在今后的生產(chǎn)和科研工作中將會(huì)得到廣泛的應(yīng)用。