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紅外測厚儀的測量原理和注意事項說明
紅外測厚儀的測量原理是兩個激光位移傳感器的激光對射，被測體放置在對射區域內LPM30C激光測厚原理，根據測量被測體上表面和下表面的距離，計算出被測體的厚度。
紅外測厚儀的基本組成是激光器、成像物鏡、光電位敏接收器、信號處理機測量結果顯示系統。激光束在被測物體表面上形成一個亮的光斑，成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏上，產生探測其敏感面上光斑位置的電信號。當被測物體移動時，其表面上光斑相對成像物鏡的位置發生改變，相應地成像點在光敏器件上的位置也要發生變化。
紅外測厚儀測量注意事項:
1、在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
2、測量時側頭與試樣表面保持垂直。
3、測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
4、測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
5、測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
6、測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
7、在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數。
8、在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。