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當前位置：> 供求商機> LODAS™ – AI50/100
貨物所在地：上海上海市
更新時間：2025-03-27 21:00:08
有效期：2025年3月27日 -- 2025年9月27日
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詳情介紹
特征：
半導體用Photomask Blanks的出廠檢查、工藝評價
用微分干涉顯微鏡分析缺陷
檢查對象：Photomask Substrate、Cr、Resist、MoSi
檢查項目：顆粒、內部缺陷（Option）
檢查靈敏度：PDM缺陷尺寸0.1μm（AI00）
定期支持裝置安裝完成后的性能維持。
24小時電話對應，全年無休的安心支持。
認真對待客戶新的要求。
召開技術研討會和充實各種手冊，讓顧客能夠自行維護和更換零件。
提供HDD、激光光源等消耗品的免費診斷服務。
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岱美儀器技術服務（上海）有限公司
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