珀金埃爾默企業管理（上海）有限公司
實時內標法使用 Avio 500 ICP-OES 獲得更高精度
檢測樣品：電池材料
檢測項目：成分分析 基質組成
方案概述：使用 ICP-OES 進行測量時，通常可接受的精度（即相對標準偏差，RSD）為 1-2 %。但是，有些應用則需要更高精度，如貴金屬、電池材料等的主要成分分析以及基質組成的確認。在 Avio® 500 ICP-OES 上采用實時內標法（CRTSIS）技術是一種實現更高精度測量的簡單方法。
使用 ICP-OES 進行測量時，通常可接受的精度（即相對標準偏差，RSD）為 1-2 %。但是，有些應用則需要更高精度，如貴金屬、電池材料等的主要成分分析以及基質組成的確認。在 Avio® 500 ICP-OES 上采用實時內標法（CRTSIS）技術是一種實現更高精度測量的簡單方法。
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