CSK-IA 超聲標準試塊
| 參考價 | ￥ 980 |
| 訂貨量 | ≥1 |
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 上海越磁電子科技有限公司
- 品牌
- 型號 CSK-IA
- 產地 上海
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2017/7/14 20:30:40
- 訪問次數 1446
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CSK-IA超聲波檢測試塊
技術參數：
名稱:標準試塊
型號規格:CSK-IA
執行標準JB/T4730-2005
材質:45號鋼
毛坯種類:鍛打件
熱處理狀態:正火處理。
超聲波標準試塊檢測報告
CSK-IA超聲波檢測試塊
| 超聲波標準試塊檢測報告 | |||
| 1 | 本體材料化學成分 | 主要化學成分應符合GB699 | 合格 |
| 2 | 本體材料晶粒度 | 本材料經正火處理后，晶粒度應達到7級以上。 | 合格 |
| 3 | 本材料內部缺陷 | 使用5MHZ直探頭，對試塊進行接觸法超聲波探傷，不得出現大于對比試塊DB-PZ2-2平底孔回波幅度1/4的缺陷回波。 | 合格 |
| 4 | 折射角度偏差 | 使用2.5MHZ、折射角為45度的斜探頭檢測時,不得超出±2度 | 合格 |
| 5 | 有機玻璃鑲嵌件縱波傳播時間 | 長溫下,有機玻璃23mm厚度縱波傳播時間相當與20（45）號鋼50mm厚度的縱波時間 | 合格 |
| 6 | R100圓弧面中心位置偏差 | 使用2.5MHZT 5MHZ的斜探頭檢測時,不得超出±0.5mm | 合格 |
| 7 | R100圓弧面回波幅度偏差 | 使用2.5MHZ和 5MHZ的斜探頭檢測時,不得超出1.5dB | 合格 |
| 8 | 外觀及表面粗糙度 | 外觀光滑無明顯劃傷,碰傷,銹蝕等缺陷,表面粗糙度探測面不得低于Ra3.2,其余Ra6.3 | 合格 |
| 9 | 幾何尺寸,行位公差 | 尺寸.公差±0.1 各邊垂直度不大于0.05 | 合格 |
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