鐘飛：  

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儀器用途

LW200-4JT適用于廠礦企業、高等院校及科研機構作金相、巖相、礦相等材料表面組織結構的薄片觀察檢測。也可用于電子工業部門作晶體，金屬陶瓷、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、芯片及新材料等方面的檢驗與分析。

采用進口光學鏡片，*的100X干鏡可媲美國外同類產品,為國內市場配置zui的產品.

主要技術參數：

1．三目鏡筒：傾斜45 °可旋轉360 °
瞳距55mm-75mm，視度±5°

輔助倍數1.25X

2．高眼點目鏡：PLAN10X/20mm

3．平場物鏡: 4X、10X、40X（S）、100X（S，oil）

4．總放大倍數：50X-1250X

5．雙層載物臺：尺寸160mm*140mm，

移動范圍 75*50mm

6．聚焦鏡：可調式阿貝聚焦鏡NA1.25 
孔鏡可變光欄和視場光闌  濾色片座

7．調 焦 ：同軸粗微動調焦 升降范圍25mm 
微動格值0.002mm 

8. 光 源：柯勒照明，正交偏振裝置，濾色片（綠、黃、磨砂），反射光可調鹵素燈12V50W，

透射光可調鹵素燈12V20W                               

選購件:                                           

1、目鏡 WF16X/11mm、WF20X/9mm,10可調帶尺目鏡

2、物鏡：PL5X、PLL20X、PLL50X、PLL60X、PLL80X、  PLL100X（干鏡）

3、攝像系統：130/300萬像素數字彩色攝像頭,數碼相機

4、金相分析軟件，測量軟件等