梅特勒-托利多XP/XS分析天平快速安全的滿足所有稱量需求。其中，XP分析天平具有全面的質量管理工具（QM），滿足質量保證的要求，特別適合于例如制藥行業的嚴格法規環境。而XS分析天平，配合其創新選件，為快速高效的稱量過程設立了全新標準。

梅特勒-托利多XP/XS分析天平主要特點：
采用高精度高分辨率后置式傳感器，滿足用戶高精度的稱量需求；
具有中文界面的TFT彩色觸摸屏（SmartScreen）或觸摸屏（TouchScreen），實現安全、便捷的天平操作；
紅外感應器（SmartSens）*，實現無需用手接觸的稱量操作：開關門、打印、去皮等；
網格秤盤（SmartGrid），獲得快速、準確的稱量結果；
水平控制系統（LevelControl）*，在天平偏移水平位置時提供警告提示功能；
專業級全自動校準技術（proFACT）或全自動校準技術（FACT）,溫度漂移和時間觸發的自動內置砝碼校正和線性校正，獲得精確稱量結果；
zui小稱量值（MinWeigh）功能，提供符合法規的稱量幫助（需要梅特勒-托利多客戶服務工程師現場設置激活）；
天平校驗功能（BalanceCheck）*，自動提示用戶使用外部砝碼校正天平，確保稱量結果始終準確；
顯示屏塑料保護罩，避免散落樣品的腐蝕；
標配RS232通訊接口和一個可用于藍牙、以太網、LocalCAN、RS232和PS/2通訊接口選件插槽，方便連接打印機、電腦等外圍設備；
符合GxP規范的稱量結果輸出，獲得完整的、可追溯的稱量信息；
GWPExcellenceTM一體化安全功能，確保天平始終正確工作；

*僅XP天平

梅特勒-托利多XP/XS分析天平技術參數：
XP分析天平：量程120g~520g，可讀性0.01mg~0.1mg
XS分析天平：量程120g~220g，可讀性0.01mg~0.1mg

梅特勒-托利多XP/XS分析天平應用領域:
梅特勒-托利多XP分析天平在例如需要符合美國藥典（USP）或GMP/GLP規范的制藥行業有著廣泛的應用，同時也是獲得至高稱量準確度的*解決方案。而XS分析天平，則是食品化工行業，關注至高稱量效率，易于清潔的理想選擇。