梅特勒-托利多超越系列XS分析天平特點/功能：
1. 采用高精度高分辨率后置式傳感器，滿足用戶高精度的稱量需求；
2. 具有中文界面的觸摸屏（TouchScreen），實現安全、便捷的天平操作；
3. 網格秤盤（SmartGrid），獲得快速、準確的稱量結果；
4. 全自動校準技術（FACT）,溫度漂移和時間觸發的自動內置砝碼校正和線性校正，獲得精確稱量結果；
5. zui小稱量值（MinWeigh）功能，提供符合法規的稱量幫助（需要梅特勒-托利多客戶服務工程師現場設置激活）；
6. 顯示屏塑料保護罩，避免散落樣品的腐蝕；
7. 標配RS232通訊接口和一個可用于藍牙、以太網、LocalCAN、RS232和PS/2通訊接口選件插槽，方便連接打印機、電腦等外圍設備；

超越系列XS分析天平技術參數：
型號 zui大稱量值/可讀性
XS105DU 0~41g/0.01mg,0~120g/0.1mg
XS205DU 0~81g/0.01mg,0~220g/0.1mg
XS64 61g/0.1mg
XS104 120g/0.1mg
XS204 220g/0.1mg
XS204DR 81g/0.1mg,220g/1mg

應用領域：
梅特勒-托利多XS分析天平，則是食品化工行業，關注至高稱量效率，易于清潔的理想選擇。