薄膜方塊電阻測試儀
- 公司名稱 天津羲和陽光科技發展有限公司
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2017/12/21 17:39:00
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薄膜方塊電阻測試儀 |
薄膜方塊電阻測試儀主要用來測量硅外延層、擴散層和離子注入層、導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜的方塊電阻。它由電氣測量部份(簡稱:主機)、測試架、四探針頭及專業測量軟件組成。 |
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本套儀器的特點是主機配置雙數字表,在測量電阻率的同時,另一塊數字表(以萬分之幾的精度)適時監測全程的電流變化,免除了測量電流/測量電阻率的轉換,更及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源,使測量電流高度穩定。主機配有恒流源開關,在測量某些薄層材料時,可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發生,更好地保護箔膜。主機配置了“小游移四探針頭”,探針游移率在0.1~0.2%。保證了儀器測量電阻率的重復性和準確度。本套儀器使用軟件進行數據采集,可實現自動換向測量、存儲,求平均值,zui大值、zui小值、zui大百分變化率、平均百分變化率等內容。 | |
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測量范圍 探針 恒流源 直流數字電壓表 供電電源 使用環境 重量、體積 |