SGWX-4 顯微熔點儀
| 參考價 | ￥ 3500 |
| 訂貨量 | ≥1 |
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 上海恒磁電子科技有限公司
- 品牌
- 型號 SGWX-4
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2015/10/23 21:41:51
- 訪問次數 1361
聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息，謝謝!
物質的熔點是指該物質由固態變為液態時的溫度，在有機化學領域中，熔點測定是辨認該物質本性的基本手段，也是純度測定的重要方法之一。目視顯微熔點測定儀是研究、觀察物質在加熱狀態下的形變、色變及物質三態轉化等物理變化過程的有力檢測手段。本儀器可用載玻片方法測定物質的熔點、變形、色變等；也可用藥典規定的毛細管方法測其熔點，尤其對深色樣品，如醫藥中間體、顏料、橡膠促進劑等的熔點，并能自始自終觀察到其熔化的全過程。特別對大專院校和科研單位進行實驗使用。應用范圍： 測定物質的熔點。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。
特點
1本儀器使用毛細管法和載玻片法兩種方法進行測量。號：ZL02215087.0
2根據特殊要求，本儀器也可用蓋玻片----載玻片法進行測量。
3本儀器采用LED數字顯示熔點溫度值。
4本儀器采用熱臺控制系統和顯微鏡組合成一體的結構，簡單可靠，使用方便。
5升溫速率連續可調。我們建議你采用1℃/分的升溫速率測量熔點的溫度值，在*次使用時記錄下1℃/分的升溫速率時的波段開關和電位器的編號則以后用此位置就能得到你的所要求的升溫速率。
并請注意：
（1）室溫的影響：在同樣波段開關和電位器的編號下，室溫越低，升溫速率越慢。
（2）電子元件的影響：電子元件的老化，升溫速率一定時，其電位器的編號會有所變化，只要進行微調即可，編號越大，升溫速率越快。
性能指標：
熔點測量范圍：室溫至320℃
zui小讀數單位：1℃
測量重復性：±1℃（在<200℃時）
±2℃（在200～300℃時）
±2℃（在200～300℃時）
光學放大倍數：目鏡10X；物境4X
電源：AC220V±22V，50Hz
功率：80W
原理：基于光學零位原理的自動數字顯示旋光儀
調制器：法拉弟調制器
光源： 大功率發光二極管
工作波長：589.3 nm
可測樣品zui低透過率：1 ％
測量范圍：± 45°（旋光度） ± 120°Z（糖度）
zui小讀數：0.001°（旋光度） 0.01°Z（糖度）
準確度：0.02 級
示值誤差：±（0.005°+測量值×0.03 ％）
重復性（標準偏差s）：樣品透過率大于1﹪時≤ 0.002° （旋光度）
顯示方式：點陣式液晶顯示
試管：200 mm、100 mm 兩種
電源：220 V ± 22 V，50 Hz ± 1 Hz
儀器尺寸：718 mm × 342 mm × 220 mm
儀器凈重：32 kg
USB1.1 接口：56 位數據
調制器：法拉弟調制器
光源： 大功率發光二極管
工作波長：589.3 nm
可測樣品zui低透過率：1 ％
測量范圍：± 45°（旋光度） ± 120°Z（糖度）
zui小讀數：0.001°（旋光度） 0.01°Z（糖度）
準確度：0.02 級
示值誤差：±（0.005°+測量值×0.03 ％）
重復性（標準偏差s）：樣品透過率大于1﹪時≤ 0.002° （旋光度）
顯示方式：點陣式液晶顯示
試管：200 mm、100 mm 兩種
電源：220 V ± 22 V，50 Hz ± 1 Hz
儀器尺寸：718 mm × 342 mm × 220 mm
儀器凈重：32 kg
USB1.1 接口：56 位數據
儀器的保養
儀器應安放在干燥的地方，避免經常接觸腐蝕性氣體，防止受到劇烈的振動。
經過一段時間使用之后由于外界環境的影響，儀器的光學系統表面可能積灰或發霉，
影響儀器性能，可用小棒纏上脫脂棉花蘸少量無水乙醇或醋酸丁脂輕輕揩擦。
如有霉點可用棉花蘸酒精后，再蘸少量的氧化鈰（紅粉）或碳酸鈣輕輕揩擦，光學
零件一般勿輕易拆卸。光學零部件一經拆卸就破壞了原來的光路，重調整，否則
儀器性能將受影響甚至無法工作。若因故拆卸更換光學零件，應送我廠解決。
光路的檢查
可用外徑為φ30 mm 的一個圓片放入試樣槽中測試光束的出口處，在較暗的室內光
線下可以看到測試光束投射到此圓片上的光斑，此光斑應呈圓形且與圓片基本同心，如
光斑明顯不圓，或明顯偏離中心則必將影響儀器的性能，應送我廠處理。
儀器應安放在干燥的地方，避免經常接觸腐蝕性氣體，防止受到劇烈的振動。
經過一段時間使用之后由于外界環境的影響，儀器的光學系統表面可能積灰或發霉，
影響儀器性能，可用小棒纏上脫脂棉花蘸少量無水乙醇或醋酸丁脂輕輕揩擦。
如有霉點可用棉花蘸酒精后，再蘸少量的氧化鈰（紅粉）或碳酸鈣輕輕揩擦，光學
零件一般勿輕易拆卸。光學零部件一經拆卸就破壞了原來的光路，重調整，否則
儀器性能將受影響甚至無法工作。若因故拆卸更換光學零件，應送我廠解決。
光路的檢查
可用外徑為φ30 mm 的一個圓片放入試樣槽中測試光束的出口處，在較暗的室內光
線下可以看到測試光束投射到此圓片上的光斑，此光斑應呈圓形且與圓片基本同心，如
光斑明顯不圓，或明顯偏離中心則必將影響儀器的性能，應送我廠處理。
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